Memory 测试系统
用于测试LP-DDR5, DDR5设备和高带宽存储器的单系统解决方案。
为了满足快速增长的终端市场（如便携式电子产品和服务器）的需求，半导体存储器的需求量大幅增长。公司正在开发高速数据传输的存储器测试系统，以满足市场需求。爱德万T5503HS2测试仪旨在处理这些超高速存储器IC。
快速设备需要快速测试解决方案
T5503HS2设计用于评估速度高达9Gbps的DUT，总体计时精度为±45皮秒。通过可选的4.5-GHz高速时钟，该测试仪可以扩展，从而支持未来几代更快速的存储器设备。
这种高度通用的系统采用16,256个通道，在测试高速SDRAM半导体以及现有的DDR4 IC、LP-DDR4设备和高带宽存储器方面实现了业界最高的并行性和最佳的成本效益。
先进的内存测试
该系统的内置功能使T5503HS2支持LP-DDR5和DDR5芯片高级功能的量产测试仪。它能自动识别和调整DQS-DQ时序差异，通过实时跟踪确保更充足的时序余量，其强大的算法模式发生器（ALPG）有利于快速、高质量地测试创新设备功能。
此外，新可编程电源的响应时间比前代快四倍，大幅降低了电压损失和误差。
面向未来的可扩展性
已安装的T5503测试仪能够以低成本无缝升级为T5503HS2系统，用户因此可以轻松更新其生产车间，以适应新一代存储器设备。利用这种可扩展性，T5503HS2测试仪可以继续提供高生产率、高精度和成本效益，以实现投资回报率最大化。
