株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区 社長：吉田 芳明）は、10月28日～11月2日にアメリカ・アリゾナ州フェニックスで行われる、半導体テストに関する世界最大の学会「International Test Conference（ITC）2018」にて、出展ならびに論文発表を行います。また、今年もプラチナム・サポーターとしてITCをサポートします。
「International Test Conference（ITC）2018」に出展
2018/10/22
展示ブース（ブース番号415）では、オンデマンド型テスト・ソリューション「CloudTesting™ Service」、アナログ、ミクスド・シグナル、センサーIC向け計測システム「EVA100」、電子回路の故障箇所を高精度に解析可能なテラヘルツ・システム「TS9000 TDRオプション」を展示します。
「CloudTesting™ Service」は、半導体テスト・プログラムを月額ライセンスで、いつでも必要な分だけ使用する事ができる、業界で最初のサービスです。お客様は、設計したデバイスの評価環境を、わずかな費用と時間で用意できます。当社の展示ブースでは、実機を使用したライブ・デモンストレーションにより、いかに早くデバイスが評価できるかご覧いただけます。テスタ本体のリース費用は不要、メンテナンス費もごく小額です。「CloudTesting™ Service」は、お客様をメンテナンスの煩わしさや、予期せぬ運用コストから解放します。
モジュラー構造の計測システム「EVA100」は、高電圧・高精度のアナログ・パラメトリック試験が可能です。アナログICやミクスド・シグナルICの、設計評価から量産までフレキシブルに対応し、お客様の製品ポートフォリオの拡張やテストコスト削減に貢献します。
論文発表
- 日時
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- 10月30日 12時20分
- 題名
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- Corporate Forum: Pattern and Test Sequence Synchronized Temperature and Power Measurement for Improved Yield, Performance Optimization and Equipment Investigations
- 発表者
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- K. Pederson, Advantest America
- 日時
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- 11月1日 9時00分
- 題名
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- Session AI 5.1: AI Engineering Assistance for ATE
- 発表者
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- K. Schaub、I. Leventhal（Advantest America）
- 日時
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- 11月1日 10時00分
- 題名
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- Paper 12.3 A: Stressed Eye Testing Module for Production Testing of 30-Gbps NRZ Signal Interfaces
- 発表者
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- K. Ichiyama, T. Kusaka and M. Ishida（株式会社アドバンテスト）
- 日時
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- 11月1日 10時15分
- 題名
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- AI 5.3 Moving Adaptive Test to "AI Test"
- 発表者
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- D. Armstrong（Advantest America）
- 日時
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- 11月1日 11時00分
- 題名
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- Keynote 3: Mini-Keynotes - ATE Perspectives on AI
- 発表者
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- I. Leventhal（Advantest America）
ポスターセッション（10月31日12時～14時）
- 題名
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- Poster 24: Improving the Routability of Memory Test Interface Boards by Auto Pin Assignment Algorithm
- 発表者
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- M. Yang, A. Fan and A. Huang（Advantest Taiwan）
- 題名
- ：
- Poster 27: Discrete-Time Controller Implementation for Automotive High-Reliability Testing
- 発表者
- ：
- K. Fan（Advantest Taiwan）
※ 本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過、または、さまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。
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