「International Test Conference（ITC）2019」に出展

2019/11/04 イベント情報

株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：吉田 芳明）は、11月12日～14日にワシントン・マリオット・ワードマンパークホテル（アメリカ・ワシントンDC）で開催される、半導体テストに関する世界最大の学会「International Test Conference（ITC）2019」にて、プラチナ・サポーターとして出展ならびに論文発表を行います。また、12日の夕方に開催される「50th Celebration」および14日～15日に開催されるTest Technology Technical Council（TTTC）主催の「Automotive Reliability and Test（ART）Workshop」についても、スポンサーとしてサポートします。

展示ブース（ブース番号209）では、オンデマンド型テスト・ソリューション「CloudTesting™ Service」、計測システム「EVA100」の車載電流センサ向け最新テスト・ソリューション、クラウドによる大容量のデータ処理能力とエッジコンピューティングAIによるリアルタイムなデータ処理能力を兼ね備えた新しいツールなどをご紹介いたします。

「CloudTesting™ Service」は、半導体テスト・プログラムを月額ライセンスで、いつでも必要な分だけ使用する事ができる、業界で最初のサービスです。お客様は、設計したデバイスの評価環境を、わずかな費用と時間で用意できます。テスタ本体のリース費用は不要、メンテナンス費もごく小額です。「CloudTesting™ Service」は、お客様をメンテナンスの煩わしさや、予期せぬ運用コストから解放します。

モジュラー構造の計測システム「EVA100」は、高電圧・高精度のアナログ・パラメトリック試験が可能です。アナログICやミクスド・シグナルICの、設計評価から量産までフレキシブルに対応し、お客様の製品ポートフォリオの拡張やテストコスト削減に貢献します。

展示ブース（ブース番号415）では、オンデマンド型テスト・ソリューション「CloudTesting™ Service」、アナログ、ミクスド・シグナル、センサーIC向け計測システム「EVA100」、電子回路の故障箇所を高精度に解析可能なテラヘルツ・システム「TS9000 TDRオプション」を展示します。

「CloudTesting™ Service」は、半導体テスト・プログラムを月額ライセンスで、いつでも必要な分だけ使用する事ができる、業界で最初のサービスです。お客様は、設計したデバイスの評価環境を、わずかな費用と時間で用意できます。当社の展示ブースでは、実機を使用したライブ・デモンストレーションにより、いかに早くデバイスが評価できるかご覧いただけます。テスタ本体のリース費用は不要、メンテナンス費もごく小額です。「CloudTesting™ Service」は、お客様をメンテナンスの煩わしさや、予期せぬ運用コストから解放します。

モジュラー構造の計測システム「EVA100」は、高電圧・高精度のアナログ・パラメトリック試験が可能です。アナログICやミクスド・シグナルICの、設計評価から量産までフレキシブルに対応し、お客様の製品ポートフォリオの拡張やテストコスト削減に貢献します。

ポスターセッション

【11月13日（水）11時30分から13時30分（会場：Exhibit Hall）】
題名
：
CloudTesting™ Service Enables Board-Level Post-Silicon Debug
発表者
：
R. Radhakrishnan、A. Kashyap、S. Panigatti、Y. Oyama、A. Sivaram
題名
：
High-Volume Consumer Devices Need High-Voltage Test Solution
発表者
：
A. Lum、B. Wang、R. Waikar、A. Sivaram
題名
：
An Effective INL Test Methodology for Low-Sampling-Rate and High-Resolution Analog-to-Digital Converter
発表者
：
K. Sato、T. Ishida、T. Okamoto、T. Ichikawa、H. Kobayashi、K. Hatayama、T. Nakatani、A. Kuwana、J-L. Wei、N. Kushita、H. Arai、L. Sha

技術セッション

【11月11日（月）14時から（会場：Washington 4）】
題名
：
Test Challenges Meeting
発表者
：
AMD社 Jeff Rearick
題名
：
Shifting Left for True KGD
発表者
：
D. Armstrong

論文発表

【11月13日（水）15時から16時30分（会場：Washington 2）】
題名
：
A Jitter Injection Module for Production Test of 52-Gbps PAM-4 Signal Interfaces
発表者
：
K. Ichiyama、T. Kusaka、M. Ishida
【11月13日（水）15時から16時30分（会場：Washington 4）】
題名
：
A New Test Method for Large-Current Magnetic Sensors
発表者
：
T. Omuro、S. Nakamura、T. Kimura、T. Kiyokawa

パネルセッション

【11月14日（木）13時30分から15時（会場：Washington 2）】
題名
：
Roadblocks for the Hetrogeneous Integration Roadmap in Test
登壇
：
D. Armstrong（パネリスト）

トークセッション

【11月14日（木）15時から16時30分（会場：Ballroom）】
題名
：
Semiconductor Test - Towards a Data Driven Future
発表者
：
K. Schaub

※ 本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過、または、さまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。