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Tue Oct 24 07:00:00 GMT 2017 Topics

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田芳明)は、10月31日~11月2日にアメリカ・テキサス州フォートワースで行われる、半導体テストに関する世界最大の学会「International Test Conference(ITC) 2017」にて、出展ならびに論文発表を行います。また、今年もプラチナム・サポーターとしてITCをサポートします。

展示ブース(ブース番号218)では、オンデマンド型テスト・ソリューション「CloudTestingTM Service」と、アナログ、ミクスド・シグナル、センサーIC向け計測システム「EVA100」を展示します。

「CloudTesting Service」は、半導体テスト・プログラムを月額ライセンスで、いつでも必要な分だけ使用する事ができるサービスの中で最初のものです。お客様は設計したデバイスを初期投資なしのわずかな費用で評価することができます。数時間でテスト環境が作成できますので、デバイスをすぐにテストする事が可能になります。展示ブースでは、実機を使用したライブ・デモンストレーションにより、いかに早くデバイスが評価できるかご覧いただけます。テスタ本体のリースおよび保守費用は不要。「CloudTesting Service」は、お客様をメンテナンスの煩わしさや、予期せぬ運用コストから解放します。

モジュラー構造の計測システム「EVA100」は、高電圧・高精度のアナログ・パラメトリック試験が可能で、多くのアナログICやミクスド・シグナルICにフレキシブルに対応します。最新の「EVA100」にはサーボ・ループ機能が搭載されています。これにより、18bit ADコンバータ評価において、20bitリニアリティDC性能、低ドリフト/ノイズ・ソース、レファレンス電圧といった特性により、業界最速のテスト時間と高精度を提供します。また、「EVA100」の直感的なGUIは、デバイスの開発工期を大幅に短縮します。

論文発表

題名
CloudTesting Service Simulator Interfaces
発表者
A.T Sivaram (Advantest America, Inc.)
日時
10月31日(火) 午後1:30
題名
A Jitter Separation and BER Estimation Method for Asymmetric Total Jitter Distributions
発表者
石田 雅裕、一山 清隆(株式会社アドバンテスト)
日時
11月1日(水) 午前9:30

ポスター・セッション

題名
Multisite PMIC Fast Trimming with Pattern-based Search Function
発表者
Kevin Fan (Advantest Taiwan, Inc.)
日時
11月1日(水) 12:00 ~ 午後2:00
題名
Delay Fault Testing Using Cloud Testing Service
発表者
Sam El Alam 、Arul Subbarayan (Qualcomm, USA)、
A.T Sivaram (Advantest America, Inc.)、大山 恭司 (株式会社アドバンテスト)
日時
11月1日(水) 12:00 ~ 午後2:00