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2018-10-22 06:52:00.0 Topics

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、10月28日~11月2日にアメリカ・アリゾナ州フェニックスで行われる、半導体テストに関する世界最大の学会「International Test Conference(ITC)2018」にて、出展ならびに論文発表を行います。また、今年もプラチナム・サポーターとしてITCをサポートします。

展示ブース(ブース番号415)では、オンデマンド型テスト・ソリューション「CloudTesting™ Service」、アナログ、ミクスド・シグナル、センサーIC向け計測システム「EVA100」、電子回路の故障箇所を高精度に解析可能なテラヘルツ・システム「TS9000 TDRオプション」を展示します。

「CloudTesting™ Service」は、半導体テスト・プログラムを月額ライセンスで、いつでも必要な分だけ使用する事ができる、業界で最初のサービスです。お客様は、設計したデバイスの評価環境を、わずかな費用と時間で用意できます。当社の展示ブースでは、実機を使用したライブ・デモンストレーションにより、いかに早くデバイスが評価できるかご覧いただけます。テスタ本体のリース費用は不要、メンテナンス費もごく小額です。「CloudTesting™ Service」は、お客様をメンテナンスの煩わしさや、予期せぬ運用コストから解放します。

モジュラー構造の計測システム「EVA100」は、高電圧・高精度のアナログ・パラメトリック試験が可能です。アナログICやミクスド・シグナルICの、設計評価から量産までフレキシブルに対応し、お客様の製品ポートフォリオの拡張やテストコスト削減に貢献します。

論文発表

日時
10月30日 12時20分
題名
Corporate Forum: Pattern and Test Sequence Synchronized Temperature and Power Measurement for Improved Yield, Performance Optimization and Equipment Investigations
発表者
K. Pederson, Advantest America
日時
11月1日 9時00分
題名
Session AI 5.1: AI Engineering Assistance for ATE
発表者
K. Schaub、I. Leventhal(Advantest America)
日時
11月1日 10時00分
題名
Paper 12.3 A: Stressed Eye Testing Module for Production Testing of 30-Gbps NRZ Signal Interfaces
発表者
K. Ichiyama, T. Kusaka and M. Ishida(株式会社アドバンテスト)
日時
11月1日 10時15分
題名
AI 5.3 Moving Adaptive Test to "AI Test"
発表者
D. Armstrong(Advantest America)
日時
11月1日 11時00分
題名
Keynote 3: Mini-Keynotes - ATE Perspectives on AI
発表者
I. Leventhal(Advantest America)

ポスターセッション(10月31日12時~14時)

題名
Poster 24: Improving the Routability of Memory Test Interface Boards by Auto Pin Assignment Algorithm
発表者
M. Yang, A. Fan and A. Huang(Advantest Taiwan)
題名
Poster 27: Discrete-Time Controller Implementation for Automotive High-Reliability Testing
発表者
K. Fan(Advantest Taiwan)

本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過、または、さまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。