M4171

テスト・ハンドラ

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世界中どこからでも遠隔操作可能、デバイスの開発評価を「自動化」

M4171は研究開発向けシングルサイト・テスト・ハンドラです。
量産用ハンドラと同様の高効率な温度制御機能をポータブルなサイズに収め、半導体開発における温度テストや発熱管理を最適化します。デバイスを人の手でテスト・システムに置き、テスト結果に応じて選別することが一般的な半導体デバイスの開発現場に、自動化による効率向上を提案します。

遠隔操作

ネットワークを介して、世界中どこからでも操作できます。オペレーターの削減に加え、異なる場所のエンジニアがM4171をシェアすることにより、接続するテスト・システムの稼働率向上そしてテスト・コスト削減を可能にします。

試験温度範囲が制御可能

-45℃～125℃の試験温度範囲を制御可能です。常温／高温／低温の3種の試験が可能なTri-temp技術により、幅広い試験温度レンジをカバーし、デバイス開発の効率を高めます。デバイス表面に直接コンタクトして温度を印加することで、急速冷却および加熱を可能とし、温度サイクル試験の効率を手動テスト比で40％改善します。

多彩な機能

一回でさまざまな温度のテストが可能な「マルチモード・テスト・プロセス」や、テストでFail判定されたデバイスを自動で再テストする機能など、ユーザーのニーズに応じてテスト・モードをフレキシブルに設定できます。
当社のテスト・システムをはじめ、さまざまなテスト・システムに接続可能です。
デバイスに記された2Dコードの読み取り機能、デバイスを置く向きを正しく調整するローテーション機能、デバイスを押さえてテスト・ピンと高精度にコンタクトさせるオプション機能も備えています。
GUI（Graphic User Interface）はシンプルかつ直感的で、ユーザーは簡単に操作できます。

  • M4171 Test Handler