M6242
テスト・ハンドラ
従来比2倍以上の高スループット！
DRAM量産試験に最適なテスト・ハンドラ
近年、パソコンのメイン・メモリに代表されるDRAMは、デジタル・ハイビジョン・テレビ、DVDハードディスク・レコーダ、デジタル・カメラといったデジタル家電などの用途が広がってきています。これらの市場は、今後も扱うデータの分量が増えることから成長が見込まれていますが、デバイスの集積化と低価格化にともない、量産ラインにおけるテスト・コストの低減が強く求められています。
M6242は、42,200個／時間の高スループットを実現し、テスト・コストの大幅な低減を可能にしたテスト・ハンドラです。
特長
42,200個／時間の高スループット・ハンドラ
M6242は、ハンドラ内部の構造および搬送アームの複雑な動作を最適化して、多数個かつ高速ハンドリングを実現し、スループット42,200個／時間（当社従来機種M6241比2倍以上）を可能にしました。これにより、テスト・コスト低減に大きく貢献します。
温度コントロール機能の強化
M6242は、恒温槽内の温度コントロール機能を強化することで、温度精度を向上させました。温度印加範囲－10℃～＋100℃における誤差を±1.5℃以内に抑え、テストの歩留まり向上に貢献します。
操作性の向上
M6242は、大型メイン画面にテスト時間や温度関連など主要な情報が一目でわかるようにしたことと、スイッチをビジュアル化することで、従来に比べ視認性ならびに操作性を大幅に向上させました。
主な仕様
| 対象パッケージ | BGA、CSP、TSOP1 |
|---|---|
| 同時測定 | 最大512個 |
| スループット | 42,200個／時間 |
| 温度印加範囲 | －40℃～＋125℃ －55℃～＋125℃（オプション） |