T5511

最高試験速度は業界最高クラスの8Gbpsを達成しており、現在もっとも高速なGDDR5-SDRAMのスピード試験に余裕をもって対応しています。また全テストピンが8Gbpsに対応しているため、高速で試験する代わりに同時測定個数が減少するという制限はありません。

新しくDDR4-SDRAMとGDDR5-SDRAMの測定に必要となったタイミング・トレーニング機能を、ハードウエアで実現しました。専用ハードウエアを使用することにより、従来の ソフトウエア対応では達成できなかったスループット向上を実現しました。

新しくDDR4-SDRAMとGDDR5-SDRAMの測定に必要となったCRCコード発生機能を、ハードウェアで実現しました。専用ハードウェアで自動的にCRCコードを付加することにより、個別にCRCコードを考える必要がなくなり、プログラム作成が容易になります。
またメモリ・テスタ用OS “FutureSuite^®” 搭載により、当社従来製品T55xxシリーズの膨大なプログラム資産を活用することができます。

※ FutureSuite^® は、株式会社アドバンテストの、日本、米国およびその他の国における登録商標または商標です。

開発用途の最少384ピンから、量産用途の最大6,144ピンまで、多彩なシステム構成が実現できます。開発から量産までを1台でカバーすることができるため、設備投資を最小限に抑えることができます。

汎用メモリとしての用途の主役を担うDRAMは、グラフィック、サーバー、クライアント、そしてモバイルと多くの分野で用いられ、それぞれの用途に沿って独自の進化を続けています。グラフィックで用いられるGDDR5-SDRAMは超高速の動作に特化され、その高速動作と信頼性を確保するためにタイミング・トレーニングやCRC* などの機能が必要になります。近い将来サーバー、クライアント分野の主役となるDDR4-SDRAMはDDR3-SDRAMの2倍の帯域を実現し、かつGDDR5と同様な機能が必要になります。またモバイルおよびグラフィック分野では×32、×64といったI/O数が多い物が主流であり、将来に向けてWide　I/Oという×256 I/Oを超えたDRAMの規格化も行われています。

こうした多様な進化をとげるDRAMの試験には、それぞれの新しいデバイスにあったタイムリー且つ最適なテスト・ソリューションが要求される一方で、単一のプラットフォームで全品種を網羅し、かつ設計から量産までを網羅するテスト環境の提案が期待されていました。

∗ CRC: Cyclic Redundancy Check（巡回冗長検査）