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2017-06-21 05:39:00.0 Products

在成熟的V93000平台上,新卡进一步扩展了高并行大同测的能力

全球领先的半导体测试设备供应商爱德万测试在Wave Scale MX系列产品中增加了高分辨率,高精度的混合信号板卡,扩展了在模数和数模转换器系列的测试范围。 新的Wave Scale MX高分辨率卡结合了业界最高的并行测试功能与最可靠的AC和DC性能。 这些属性使得爱德万测试的V93000测试平台在测试模拟和数字波形转换器时能满足越来越苛刻的低失真,精度和线性度要求,同时还有助于降低消费音频类和IoT芯片的测试成本,缩短上市时间。

“我们的新型高分辨率Wave Scale MX卡具有最高的通道数和密度,“爱德万测试集团SoC业务部高级副总裁Hans-Juergen Wagner说,“该卡可以支持更广泛的信号范围,并支持音频组件输出更高的电平。”

这块板卡提供多达32个仪器 --- 16个任意波形发生器(AWG)和16个数字化仪,提供高性能和完全独立的AC和DC测试,用于单端或差分信号。 它自身带有参考源的温度补偿功能,可确保长时间的最高直流稳定性,每个单端信号有独立的参考地信号来实现最高保真度。每个通道附加的参数测量单元(PMU)可确保高精度的直流测量。 这块板卡还可以处理摆幅高达20 Vpp的单端信号和40 Vpp的差分信号。 所有功能都由测试处理器芯片软件控制,以实现最大吞吐量和可重复性。

Wave Scale MX卡的创新架构可以用32个具有完全不同的设置的仪器进行同步测试,因为每个仪器都具有独享资源。 由此带来的芯片内并行和多芯片高同测效率显著降低了复杂混合信号芯片的测试成本。

爱德万测试这次推出了两种版本Wave Scale MX的板卡:一种是纯高分辨率资源的板卡,另一种是混合板卡,将高分辨率和高速功能结合在一张卡上。

现在两种版本的高分辨率Wave Scale MX板卡均已开始销售。

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