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Wed Jun 21 05:39:00 GMT 2017 Products

新通道卡提高既有V93000平台之高平行度及大量多元件同測能力

日本東京─2017年6月21日─半導體測試設備領導供應商愛德萬測試為Wave Scale MX產品系列增添生力軍,推出高解析度、高精確度的混合訊號通道卡,擴大該系列於測試類比數位與數位類比波形轉換器的範疇。全新高解析度Wave Scale MX卡具備業界最高平行測試能力與最佳交流與直流效能。藉由這些特性,愛德萬測試V93000測試平台在測試類比數位波形轉換器時,得以滿足越來越嚴格的低失真,精確度和線性度需求,同時也有助縮減消費性音頻與物聯網裝置的測試成本及上市時間。

愛德萬測試產品事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示:「愛德萬測試最新高解析度Wave Scale MX卡擁有最高的通道數量與密度,能支援更廣的訊號範圍,也使音頻組件具備更高的輸出功率。」

該通道卡能為單端或差分信號提供多達32組高效能與完全獨立的交流與直流量測的能力,其中包括16組任意波形產生器(AWG)與16組的數位轉化器。該通道卡具備區域溫度控制的機制,確保直流量測維持最高穩定度,且單端訊號可參照各通道的接地感應線,以達到最完美的信號保真度。而且每個腳位均有一組參數測量單元(PMU),可執行極精準的直流量測。此外,該通道卡支援單端訊號的振幅範圍最高達20 Vpp,差分訊號則可達40 Vpp。所有功能皆由Testprocessor軟體控制以達最大化的產出與量測重複性。

Wave Scale MX無資源共享的創新架構能在32組工具上有截然不同的設定且進行同步測試,除能滿足元件內部平行度的需求外進而能達到極高多元件同測效率,大幅降低複雜混合訊號的測試成本。愛德萬測試除了推出具備獨家高解析度資源的通道卡,也推出兼具高解析度與高速功能的Wave Scale MX混合卡。

愛德萬測試即日起受理高解析度與混合式Wave Scale MX卡的訂單。

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