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Mon Jul 24 07:00:00 GMT 2017 Products

全新RND440 Type 3 Unit裝置是專為智慧手機與其他電子裝置的LCD顯示驅動IC打造的第一個高容量測試解決方案

日本東京─2017年7月24日─半導體測試設備領導廠商愛德萬測試推出RND440 Type 3治具裝置,作為強化T6391 LCD驅動IC(DDI)測試機台的選擇配備,具備大規模平行測試新世代智慧型手機面板所用薄膜覆晶封裝(Cof)晶片的能力。此治具裝置專為因應不斷成長的DDI接腳數目、持續增加的介面速度,以及高解析度所需的高度整合功能。

行動裝置已從傳統玻璃覆晶封裝(CoG)的驅動IC轉而採用更為先進的CoF封裝技術,而這背後因素有很多。舉例而言,今日智慧型手機開始採用的圓弧形OLED螢幕,便需要用到CoF封裝技術。

除了CoF封裝的應用之外,其他技術發展也推升業界對更佳測試解決方案的需求,包括用於智慧型手機、平板、筆記型電腦與其他使用LCD螢幕裝置的DDI晶片輸出接腳數量不斷增加,以及觸控面板感應晶片(TDDI)電子產品越來越多。

全新RND440 Type 3治具可用於高接腳數、高速晶圓測試,也可用於捲帶式封裝的CoF晶片測試,能測試CoF封裝內的所有電子元件,包括共同連接在相同薄膜基底中的IC、被動元件以及資料傳輸時所需要的訊號輸入線路。該治具測試的基底最大可達到440 mm,其大規模平行測試能力是市場上單一裝置測試機台的兩倍。

愛德萬測試ADS事業部執行副總裁Satoru Nagumo表示:「T6371測試系統是市場上唯一針對DDI與TDDI晶片的高度平行測試系統。我們的測試解決方案系統製造與工程驗證環境中,提供客戶在DDI與TDDI晶片測試上龐大的產能優勢,以及最低的測試成本。」

愛德萬測試的T6391測試系統維持T6300系列產品線一貫的工程環境模式與TDL程式語言,同時提供更快速的資料傳輸與運算能力,也是唯一有能力測試整合在DDI晶片中的觸控感測器(Touch-sensor)功能與電源管理IC(PMIC)功能的測試平台。T6391測試系統涵蓋針腳數目最高可至3,584腳位的高解析度DDI晶片,足以測試用於全高畫質(Full HD)、WXGA與HD720的LCD面板。

T6391測試系統可以處理輸出入腳位頻率高達1.6 Gbps的測試,而追加高頻的測量膜組後,可以將測試介面一舉提升到6.5 Gbps,這足以測試用於超高畫質電視(如4K電視)的DDI晶片。

RND440 Type 3治具已於今年稍早開始正式出貨給客戶。

 

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