「SEMICON China 2018」に出展

2018/03/07 イベント情報

株式会社アドバンテスト（本社:東京都千代田区　社長:吉田芳明）は、3月14日(水)～16日(金)に中国・上海の上海新国際博覧中心(SNIEC: Shanghai New International Expo Centre）にて開催される「SEMICON China 2018」に出展いたします。（ブース番号: N4ホール #4425）

出展製品

  • コンパクトなテスト・システム「T2000 AiR」
  • 少量多品種のアナログ、デジタル、ミクスド・デバイス向け計測システム「EVA100」
  • 無線温度ロガー「AirloggerTM WM1000」
  • 半導体測定環境をクラウドで提供する「CloudTestingTM Service」
  • 最新の無線IC試験が可能なテスト・システム「V93000 Wave Scale」と「Wave Scale MX-HR」「Wave Scale RF」モジュール
  • フラッシュ・メモリ用エンジニアリング・テスト・システム「T5830ES」
  • ICのパッケージ厚や電子回路の配線故障を非破壊で検査するテラヘルツ解析システム「TS9000シリーズ」
  • ディスプレイ・ドライバIC(DDI)用テスト・システム「T6391」と「HiFix」
  • 研究開発向けシングルサイト・ハンドラ「M4171」
  • 1Xnmノードの微細なパターンを描画可能なEB露光装置「F7000」
  • バーンイン・システム「B6700」

当社は、ブース展示の他、「China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)」のスポンサーを務めます。また、CSTICの「Metrology, Reliability and Testing」シンポジウムに参加します。

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