テスト・システム「T2000」GPWGDモジュールの High-Resolution Versionを発表

業界最高性能のダイナミックレンジで次世代オーディオDACおよびPMICのデバイステストをサポート

株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：吉田 芳明）は、テスト・システム「T2000」GPWGD(General Purpose Waveform Generator Digitizer)モジュールのHigh-Resolution Versionを発表しました。業界最高性能のダイナミックレンジで、ハイレゾオーディオ向け単体デバイスに加え、PMIC(パワーマネジメントIC)に組み込まれるオーディオDAC（Digital to Analog Converter）の広帯域かつ高精度のテストを、追加のボードや計測器無しで可能にします。

ハイレゾオーディオは、旧来のCDと比べてダイナミックレンジが広く、音源品質にも優れ、スマートフォン、ウェアラブルデバイス、ホームシアター、カーナビ、ゲーム機、4K/8Kテレビなどに用途が拡大しています。それに伴い、24ビットまたは32ビットの高ダイナミックレンジテストを必要とするDACを内蔵した、PMICの需要も増加しています。GPWGD High-Resolution Versionを使用することにより、PMICとハイレゾオーディオDACの測定を「T2000」一台で可能とし、設備投資とテストサイクルタイムの削減に貢献します。

GPWGD High-Resolution Versionは、従来のGPWGDモジュールとの上位互換性とハイレゾリューション機能により、オーディオICのテストに用いられている他のあらゆるテスタのアナログ性能を凌駕する、130 dBのSN比およびダイナミックレンジを実現しました。テストサイト数も他テスタの2倍を備え、より高いスループットと低いテスト・コストを提供します。また、システム拡張性にも優れ、開発評価と量産試験、既存のデバイステストと新デバイスのテストをシームレスに統合します。

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