B6700
B6700能够以高达10MHz的频率并行测试多达48块老化板，有助于存储器供应商以更快速度将其最新产品推向市场，同时降低测试成本。
独创的高性能腔体可在产生高温的同时确保高温精度，从而提高良率。
此外，它还能缩短温度上升和下降的时间，从而减少测试时间。
B6700 Series
存储器老化测试仪
预计半导体存储器市场未来会实现大幅增长，芯片制造商需要一个快速、大批量的老化测试解决方案，以满足其客户不断增长的需求。
B6700系列可以通过以高达10 MHz的频率并行测试多个老化板，从而满足这一需求。
同时可结合我们多年积累的存储器测试功能，在老化过程中运行测试，改进测试过程。
B6700D可实现更高通量
使用B6700D测试仪时，使用大容量电源，每块老化板最高可提供256安培电流，是第一代B6700测试仪的两倍。另外，它的驱动引脚资源是上一代的两倍，使其能够达到更高的测试频率和效率。
随着未来每个封装的堆叠NAND芯片数量增加，它还可以保持或增加并行性，从而保持高通量。此外，B6700D的烤箱可以复制操作条件，同时以0.1℃的增量控制温度。
B6700ES / B6700DES用于工程
B6700ES整合了B6700的所有功能，B6700DES将B6700D的所有功能整合到一个用于工程目的的较小的配置中。
它有助于缩短从研发到设备生产的TAT（周转时间）。
B6700L适用于更广泛的温度范围
B6700L具有与B6700D相同的资源，同时适应更广泛的温度范围。能够以十分之一度的增量执行从-40°C 到 +150°C的温度控制测试，使该系统非常适合可靠性和汽车设备测试。B6700L还可以同时测试多达12个与B6700D兼容的老化板（BIB）和测试程序。
B6700S实现零占用空间配置
B6700S系统为NAND闪存提供了成本非常低的测试解决方案，同时还可提供与其姊妹系统相同的功能。B6700S提供了B6700D的单元化功能，可嵌入用于单个晶圆级测试的多晶圆探测系统，避免产生与占用实验室或生产环境地面空间相关的任何成本。