B6700
B6700能够以高达10MHz的频率并行测试多达48块老化板，有助于存储器供应商以更快速度将其最新产品推向市场，同时降低测试成本。
独创的高性能腔体可在产生高温的同时确保高温精度，从而提高良率。
此外，它还能缩短温度上升和下降的时间，从而减少测试时间。
B6700 Series
存储器老化测试仪
预计半导体存储器市场未来会实现大幅增长，芯片制造商需要一个快速、大批量的老化测试解决方案，以满足其客户不断增长的需求。
B6700系列可以通过以高达10 MHz的频率并行测试多个老化板，从而满足这一需求。
同时可结合我们多年积累的存储器测试功能，在老化过程中运行测试，改进测试过程。
B6700ES用于工程
B6700ES将B6700的所有功能整合到一个较小的配置中。
它有助于缩短从研发到设备生产的TAT（周转时间）。
B6700S实现零占用空间配置
B6700S系统为NAND闪存提供了成本非常低的测试解决方案，同时还可提供与其姊妹系统相同的功能。B6700S可以将B6700的功能嵌入到单个晶圆级测试的多晶圆探测系统，避免产生与占用实验室或生产环境地面空间相关的任何成本。