T5830/T5830ES
存储器测试系统
非常灵活的测试系统，具有对低成本的闪存存储器进行前道晶圆测试和后道封装测试所需的所有功能。
随着便携式存储器的蓬勃发展，预计全球闪存测试系统市场将持续增长。对于非易失性存储器，经济高效的测试需要一个多功能平台，以实现高投资回报率（ROI）并降低用户的财务风险。
非常灵活的T5830测试系统机具有对低成本的闪存存储器进行前道晶圆测试和后道封装测试所需的所有功能。它采用可扩展的内置大电流可编程电源（PPS）架构，在处理从少引脚数到多引脚数存储器时，具有灵活、经济的性能。该系统还利用了爱德万的创新Tester-per-Site™设计。这一设计可允许每个Site独立运行，从而加快测试时间并降低测试的总体成本。
该测试系统的工作频率为400MHz，能够生成高达800兆比特/秒（Mbps）的数据传输率。此外，当T5830测试四个数字引脚的存储器时，可同时处理多达2,304个被测器件(DUT）。
凭借这些功能，爱德万的新款测试系统非常适合处理各种存储器芯片，包括使用标准串行外设接口（SPI）协议的NOR和NAND闪存、少引脚数闪存存储器（如智能卡和单列直插式存储器（SIM））、电可擦可编程只读存储器（EEPROM）以及其他嵌入式闪存存储器。
T5830测试系统共有两种型号，可分别用于量产和工程，使该系统既适用于质量测试，也适用于大批量生产。这建立在相同平台上，并采用与T58xx产品系列所有其他产品相同的FutureSuite™软件，增强了系统的可靠性并提供了模块化升级能力。
| 目标设备 | NOR闪存、NAND闪存 |
|---|---|
| 并行测试 | 前道晶圆测试：2,304 (x4pin) 后道封装最终测试：768 |
| 测试速度 | 高达800Mbps |
| 综合时间精度 | ±350ps |
| 软件 | FutureSuite OS（ATL和MPAT兼容） |