T5851/T5851ES
内存测试系统

T5851系统旨在为评估高速协议NAND闪存(包括UFS3.0通用闪存和PCIe第四代NVMe固态硬盘(SSD))提供一个具有成本效益的测试解决方案,预计LTE 5G通信市场对上述两种产品的需求强劲。
灵活的T5851测试机共有两种型号,可分别用于量产和工程。这使得该系统可用于可靠性和系统测试以及测试程序开发,或者在配备自动组件分选装置(如爱德万M6242)后,用于大批量生产。作为一种完全集成的系统级测试解决方案,T5851在一个工具中提供多协议支持,而其每个DUT测试仪架构和专有硬件加速器有助于实现行业领先的测试效率。
T5851采用与爱德万MPT3000系列SSD测试解决方案相同的成熟测试机架构,通过使用与T5800系列其他成员相同的多功能平台和FutureSuite™软件,最大程度地减少客户的资本投资和部署风险。可以针对任一DUT优化配置和性能,并且具有系统的模块化升级能力可以提高客户未来的投资回报率。
该系统的可扩展、大电流可编程电源(PPS)支持所有当前和下一代存储器的需求。此外,坚固的模块设计和液冷能力使T5851具有卓越的可靠性。
目标设备 | UFS I/F NAND协议 |
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并行测试 | 768 |
测试速度 | 高达16Gbps |
总体时延精度 | 暂无 |
软件 | FutureSuite OS(ATL和MPAT 兼容) |