超高速DRAM测试方案，支持下一代GDDR7、LPDDR6和DDR6技术
为满足日益增长的人工智能（AI）、高性能计算（HPC）和终端应用的需求，存储技术正变得越来越复杂且速度更快。T5801超高速DRAM测试系统是一款尖端技术平台，它支持包括GDDR7、LPDDR6和DDR6在内的最新高速内存技术。
-
高速内存测试速率高达36Gbps PAM3和18Gbps NRZ*
-
前端单元（FEU）结构，以实现卓越的信号完整性
-
基于硬件的测试功能可全面覆盖下一代DRAM芯片（LPDDR6、GDDR7、DDR6）和内存模块（MRDIMM、CAMM）的测试.
-
从研发到量产阶段的灵活测试单元架构。
-
*PAM3和NRZ是两种信号系统。PAM3通过三个电平来进行信号传输的技术。而NRZ则通过两种电平表示信号。
