T2000
SoC测试系统
T2000灵活平台满足多样化的测试需求
在当今快速换代的时代，SoC芯片需要小批量高混合的制造方法。半导体制造商在尽量避免以2-3年的周期更换测试机。
T2000平台采用模块化架构，可以根据应用需求，对必要的功能模块重新灵活配置。丰富多样的功能模块，包括数字、高性能模拟、功率混合信号和图像采集，可以提供广泛的测试覆盖范围并以最优成本提供解决方案。T2000有助于实现可扩展的系统配置，从9个插槽的空气冷却系统到52个插槽的液体冷却系统，多达8192个通道。
爱德万可提供简洁的解决方案，有利于减少开发和小批量生产的初始投资，并为大规模生产提供高效的多DUT并行测试解决方案。T2000能以最小的资本投入对市场需求做出快速反应。
半导体芯片的扩展性越来越大和多功能性同时，还需要减少开发时间。爱德万的T2000是测试这些芯片的理想选择。
缩短上市时间——多用户端
T2000能够以最小的投资有效开发芯片测试程序。通过T2000独有的多站点CPU架构，多个用户可以同时登录到一个测试系统，并独立开展调试工作。最多可允许8人同时工作，有助于节省工程成本和缩短上市时间。此外，8个人可以同时为同一个芯片开发不同的功能，从而大幅缩短开发时间。
同类最佳并行测试效率——多站点控制器
随着并行测试的DUT（被测芯片）数量上升，成本往往也会增加，一般测试时间都会延长。然而，T2000通过高效的多站点测试技术减少了测试时间，实现了高吞吐量，完全消除了多余成本。
减少测试时间——并发测试
T2000支持并发测试功能，可以在更短的时间内执行复杂的芯片测试。并发测试相比过去更容易实现，因为T2000可以在多个测试项目的顺序和并发测试之间无缝切换。此外，并发测试功能可以让用户快速开发测试程序，缩短测试时间。
降低测试成本
T2000有多达8192个数字通道，并行度达到先前型号的两倍以上，降低了测试成本。
T2000产品系列
软件
- 基于Windows操作系统。使用简单。容易定制。
- 快速开发工具包（RDK）环境：编码简单、高代码复用性和快速调试。
- 通用离线环境：全面的T2000系统软件模拟器。
- 丰富的测试工具：波形工具（逻辑分析仪、示波器）、Shmoo、向量编辑器等。
- 测试条件运行时优化器、多用户端、并发测试流程。
SoC测试解决方案
高性能、低成本的SoC测试解决方案，为当今复杂的消费类芯片大批量生产进行了优化。
功能丰富，精度高
模拟模块提供广泛的覆盖范围。
在不断发展的数字消费市场中，芯片的功能变得越来越复杂和多样化趋势：
- 可以同时测试多个频域的多时域功能。
- 1GDM/1.6GDM通过高并行测试实现低成本测试。
- DSP192A模块通过高密度安装支持96通道芯片供电。
- 模拟模块（BBWGD/GPWGD）全规格测试，涵盖高性能音视频和基带。
- PMU32E模块能够处理广泛的精密度测试，包括ADC/DAC线性度。
- 8GDM对应高速接口芯片测试。
T2000与这些测试模块灵活结合，为客户提供了针对消费类电子芯片的优化测试解决方案。
无线测试解决方案
无线通信系统的新一代解决方案
完全集成的单模块“WLS32-A”，具有4个独特的射频矢量信号发生器和分析器
- 搭载高性能的VSG和VSA，支持复杂的调制信号生成 / 测试，带宽可达80MHz
- 通过快速稳定的合成器切换切实缩短测试时间
- 业界最高的射频端口数量（每个模块32个，可扩展到128个），支持不断进步的 MIMO 芯片和收发器应用，多数并行测试
- 采用高速和高载噪比合成器模式，提供特性评估以及量产测试解决方案
- 内置对应输入参考信号的低噪声，低抖动的可编程参考信号发生器
- 内置高度线性的双音信号组合器，对芯片+28dBm（@2.2GHz，-12dBm）以上的IP3输出实现。
- 以最低COT实现4DUT同测能力（平行信号发生/测量）。
集成功率芯片测试解决方案
我们为汽车、工业和电源管理应用的芯片提供高性能、高吞吐量的测试解决方案。
提案新标准
- 采用多功能混合信号架构，灵活性高，易于使用。
- 具有高并行性的低成本测试。
- 由同步模式的测试条件提高吞吐量。
- 使用每通道时间测量提高测试效率。
- 通过交叉功能端口和矩阵功能简单设计简单板子。
- 实现业界最快的性能，包括快速切换范围、优化的继电器切换时间并行动作硬件机构。
- 快速开发工具包（RDK）软件包支持简化编码环境，为开发可重复使用的代码和实施快速调试提供了用户友好型环境。
- 在同一平台上进行广泛的测试，从低压通信PMIC到高压汽车ASSP。
功率混合信号测试的优化模块
CMOS Image Sensor Test Solution
We provide a test solution that minimizes test cost by flexibly supporting measurement of the newest CMOS image sensors with leading-edge high-speed interfaces.
Flexible Support for Multifunctional Image Sensors
CMOS image sensors have a variety of built-in functions including AD/DA and logic circuits.
By combining measurement modules according to the functions required for testing specific image sensors, the T2000 achieves a scalable system configuration.
High speed Image Capture up to 4.8Gbps
The T2000 image sensor test solution can capture the image output from a variety of CMOS image sensors utilized in applications including smartphones, security cameras, and automotive/industrial cameras.
Its dual bank memory configuration minimizes test time by storing data and transferring it to the IP engine at the same time.
- Differential Input
MIPI D-PHY V2.1：4.8Gbps
MIPI C-PHY V1.2：3.5Gsps - Capture Memory：1,024M pixel x 2bank
Available to continuously store max. 64,000 frames of the image data
High-Speed Image Processing Engine for Higher-Resolution Image Sensors
Advantest’s new IPE4 (Image Processor Engine 4) uses heterogeneous computing technology to achieve high-speed image processing.
In conjunction with a specially developed image processing library, it minimizes the increase in test time driven by ultra-high sensor resolution.
Maximum 64 DUT Parallel Test Capability Reduces Test Cost
The T2000 can measure multiple DUTs simultaneously, improving the productivity of image sensor chips and lowering test costs.
With a wide user area and a light source with an enlarged irradiation area, it can perform parallel measurement of up to 64 DUTs.
T2000模块配置用于CMOS图像传感器测试
可扩展的系统配置
| 研发、小批量生产 | 中批量生产 | 大批量生产 | |
|---|---|---|---|
 |
 |
 |
|
| 并行测试 | 16 | 32 | 64 |
| 主框架 | LSMF | LSMF | LSMF+EXMF |
| 测试头 | 13插槽 | 46插槽 | 46插槽 |
数字应用
1GDM/1.6GDM
T2000 256通道1 Gbps数字模块/T2000 256通道1.6 Gbps数字模块
数字模块的最大运行速度为1.6 Gbps，配备了多达256个I/O通道。
还配备了SCAN、ALPG或其他图形发生器和每引脚PMU，它的标准功能可以满足各种设备（例如MPU、FPGA和MCU）的测试要求。
2GDME
T2000 256通道增强型2 Gbps数字模块
数字模块的最大运行速度为2 Gbps，配备了多达256个I/O通道。
同时还支持汽车电压输出测试。
500MDM
T2000 128通道500 Mbps数字模块
空气冷却用数字模块的最大运行速度为500 Mbps，配备了多达128个I/O通道。
它具有与1GDM模块相同的功能。与T2000 AiR结合使用时，可以配置占用更少空间的系统。
8GDM
T2000 8 Gbps数字模块
可在最大运行速度为8 Gbps的情况下进行高速测试，每个模块配备了多达96个I/O通道。
它可以有效地测试串行和并行接口。
DPS/VI应用
DPS32A
T2000 32通道设备电源32A
DPS32A模块用于向被测设备供电。
配备了32个通道。每个通道可提供的最大电流为1A。
与T2000 AiR结合使用时，可以配置占用更少空间的系统。
DPS90A
T2000 64通道设备电源90A
DPS90A模块用于向被测设备供电。
配备了2A_Function和0.8A_Function，每个通道可提供的最大电流分别为2A和0.8A。
DPS192A
T2000 96通道设备电源192A
DPS192A模块用于向被测设备供电。
配备了3A_function、2A_function和1A_function，具有不同的最大供电能力，从而可以更有效地向被测设备供电。
DPS150AE
T2000增强型设备电源150A
DPS150AE模块用于向被测设备供电。
配备了HC_Function和LC_Function，每个通道可提供的最大电流分别为16A和2.66A。
并行操作使其可以提供1000A及更高的电流。
PMU32E
T2000 32通道增强型多功能参数测量单元
PMU32E模块具备电压生成和电流测量功能，以及电流生成和电压测量功能。可用于执行AD和DA转换器的DC参数测试和DC线性测试。
模拟/射频应用
GPWGD (HR)
T2000 32通道通用型任意波形发生器/数字转换器
GPWGD模块由通用型任意波形发生器、通用型波形数字转换器、参考电压发生器和参数测量单元组成，可支持音频和视频设备等的模拟测量。
具有较高的动态范围，这是数字音频设备所必需的。
BBWGD
T2000 16通道基带任意波形发生器/数字转换器
BBWGD模块由基带任意波形发生器、基带波形数字转换器、时钟发生器和参数测量单元组成，可支持高精度的基带信号测量。
WLS32-A
T2000 12 GHz宽带信号发生器/测量模块
WLS32-A模块具备RF信号发生功能、分析功能、测量功能和参考时钟信号生成功能；可支持手机、无线局域网等的射频测量。
汽车/PMIC应用
MMXHE
T2000 64位输出增强型高压多功能混合模块
多功能混合高压（MMXHE）模块是一种多功能的混合信号模块，具有32个带高压幅值显示功能的数字通道和32个参数测量单元（PMU）通道。这些数字通道和PMU通道可以交替切换I/O。每个PMU通道均配备了一个可实现通道间同步功能的任意波形发生器（AWG）以及一个数字转换器（DGT）。此外，该模块具备IDDQ测试功能，可针对各种资源对每个引脚进行测时，它的差动电压表还可访问所有通道。
MFHPE
T2000 36位输出增强型多功能浮动式大功率模块
多功能浮动式大功率（MFHPE）模块是一种多功能功率混合信号模块，具有18个通道的浮动VI资源。根据脉冲和静态条件，可用作设备电源或加载资源。通过串联或并联连接多个通道，可以满足更高电压和更高电流容量的要求。此外，每个VI资源均配备了一个用于在电压或电流模式下进行调制的任意波形发生器（AWG）以及一个用于同时测量电压和电流的数字转换器（DGT）。还可针对各种资源对每个通道进行测时。
MPCM
T2000 72位输出多功能交叉点式矩阵模块
多功能功率交叉点式矩阵（MPCM）模块允许MFHPE通道连接到多个DUT引脚。通过使用其专用GND，可在同一应用中执行浮动测量和地面参考测量。此外，参数测量单元（PMU）使其可以进行并联接触测试、开尔文检查和参数测试。
图像传感器
4.8GICAP
T2000 4.8 Gbps图像采集模块
4.8G ICAP模块用于测试CMOS图像传感器。该模块可以高速采集符合MIPI标准D-PHY版本2.1和C-PHY版本1.2的图像数据。
D-PHY的每个通道具有一对时钟线和四对数据线，可以100 Mbps至4.8 Gbps的速率采集图像数据。
C-PHY的每个通道具有一套三线，可以800 Mbps至3.5 Gbps的速率采集图像数据。每个模块最多可以同时测量四个设备。
此外，PMU可以中断每条输入线，从而实现直流电压测量。
T2000有助于实现可扩展的系统配置，从9个插槽的空气冷却系统到52个插槽的液体冷却系统，多达8192个通道。
我们可提供紧凑型解决方案，有利于减少开发和小批量生产的初始投资，并为大规模生产提供高效的多DUT并行测量解决方案。通过T2000，我们可以根据您的测试需求提供最佳配置。
当前的T2000
T2000 AiR概览
