ACS EASY™: 专注于提升良率的ACS Engineering AI Studio

提供由人工智能(AI)驱动、用户友好的软件解决方案

爱德万测试的ACS EASY™是一款独特的由AI驱动且用户友好的自动分析良率问题的软件解决方案,能有效减少工程师的工作量并缩短纠正周期。

产品良率是半导体生产中的关键性能指标,需要持续的工程投入来进行排错和调整。

ACS EASY™ 提供了一种新型低成本的良率提升解决方案,运用人工智能(AI)来加快识别良率损失的根本原因,并提高测试结果的分析效率。

使用AI对半导体测试条件和推断结果进行自动监测,从而隔离分析良率下降的原因。这种方法能够快速解决生产问题,缩短故障排除时间,并显著减少数据分析的测试工作量。

我们专有的机器学习算法加速并补充了基于经验的人工判断,并可以对任何新的良率相关的问题进行分类,以供未来监测和分析之用。这些机器学习能力扩展了系统的储备知识库,从而使这些推断类应用能够呈现更大的价值。

ACS EASY process flow. AI automatically monitors test conditions to quickly isolate and analyze the problem and reduce troubleshooting time.

ACS EASY™能够处理海量数据,将新批次的测试结果与先前批次进行比较,从而快速鉴别异常的分Bin趋势。该方案的图形用户界面(GUI)提供了测试结果的在线分享功能,无需创建单独的报告。

ACS EASY™适用于广泛的用户群体,涵盖从芯片设计方到外包半导体组装和测试(OSAT)公司等众多领域的用户。它是一种安装便捷、易于使用的低成本系统。ACS EASY™不需要用户熟悉AI、机器学习、数据分析或统计。它让测试工程师也能够精通数据管理,而无需成为数据科学家。

无论是半导体产品测试的工程模式和量产模式,爱德万测试的最新创新提供的解决方案均能够显著提高其产能。

特性:

  • 标准测试数据格式(STDF)和数据库的高速数据集成。
  • 机器学习:覆盖原因隔离和晶圆Pattern分析。
  • 基于HTML的图形用户界面:覆盖基础数据可视化,如晶圆图、测量直方图等。
  • 服务器前端模型架构,实现团队无缝协作。
  • API:支持与其他程序的简单集成。
  • 作为基于容器化技术的web应用,易于安装。

优势:

  • 低成本的良率提升解决方案。
  • 鉴别良率损失的根本原因。
  • 提高测试结果的分析效率。
  • 能够处理海量数据、学习并鉴别出异常的分Bin趋势。
  • 易安装,直观的用户界面。
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