TAS7500系列太赫兹光谱分析系统
低频频域太赫兹光谱系统
应用于太赫兹无线通信材料领域研究的
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适用于太赫兹无线通信材料开发研究领域的低频带规格(0.03~2THz)
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无需光路调整,模块切换方便。
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利用附带的干燥空气过滤单元可以不受凝结水珠的影响下进行测试

测量模式(可选) | 透射/反射 |
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目标材料 | 介电材料、化学物质、试剂等 |
分析/显示功能 | 光谱显示(透过率、反射率、相位变化、吸收率、吸收系数、复折射率、复介电常数),时间响应显示(电场强度),定量分析(可选) |
频谱范围 | 0.03-2THz(at 23°C ±5°C) |
扫描速率 | <8ms / 扫描 |
TAS7500SL进行低频光谱测量
太赫兹无线通信材料研发
太赫兹无线通信领域预期在不久的将来可以找到实际应用。工程师准确分析太赫兹无线通信材料的特性(如介电常数和吸收性)至关重要。
低损耗材料的测量
TAS7500SL系统发射0.1和1 THz之间的太赫兹波,测量三种材料(石英,氧化铝和镁橄榄石)在相应带宽的介电常数变化。
