单一可扩展测试平台
在物联网、5G 和人工智能时代,全球一半以上的微芯片都是由我们的设备进行测试的。作为业界领先的半导体设备自动测试系统制造商,我们不断革新市场标准,帮助客户打造数码化未来。
我们的 V93000 平台能够应对最新的行业挑战,支持人工智能 (AI) 和高性能计算 (HPC)、医疗设备、高级驾驶辅助系统 (ADAS) 等应用,让世界更安全、更快速,让我们的生活更轻松。
得益于该平台的可扩展性和多代兼容性,V93000 不仅面向未来,还能节约成本。一体化平台涵盖各种不同的解决方案,如射频、数码、电源和模拟。
庞大的安装基础
Advantest 始终专注于单一可扩展平台战略,在工程设计和大批量制造领域都建立了庞大的 V93000 测试系统安装基础。V93000 已被领先的 IDM、代工厂和设计公司广泛接受。外包 IDM 和无晶圆厂公司发现全球所有主要 OSAT 都安装了 V93000 测试能力。

Advantest 提供解决方案
随着技术进入超大规模计算时代,在性能、测试成本、质量和批量生产时间方面出现了极端的测试挑战。EXA Scale 为应对这些挑战提供了尖端创新技术。
新一代 V93000 EXA Scale
V93000 EXA Scale™ SoC 测试系统针对的是性能达到超大规模级别的先进数码 Ics。新一代 V93000 EXA Scale 提供的解决方案支持新的测试方法,以应对这些先进数码器件的挑战,并实现更低的测试成本 (CoT) 和更快的上市时间 (TTM)。
当今最先进的半导体工艺实现了技术变革,能够实时整合来自物联网、手持设备、汽车和大型服务器等无数来源的数据。随着移动处理器、高级驾驶辅助系统 (ADAS) 处理器、高性能计算 (HPC) 和人工智能 (AI) Ics 的发展,正在处理的数据量和对设备功耗的要求不断呈指数级增长。伴随着这些进步,需要应对新的测试挑战,包括爆炸性的扫描数据量、极高的功耗要求、快速收益学习、高引脚数和高多站点配置。Advantest 的新一代 V93000 EXA Scale 在成熟的 V93000 架构上进行了创新性改进,以应对这些挑战。
V93000 EXA Scale 系统采用了 Advantest 获得专利的 Xtreme Link 技术,这是一种专为自动测试设备 (ATE) 设计的通信网络。该技术提供高速数据连接、嵌入式计算能力和卡对卡即时通信。

优势和优点
平台可扩展性实现了出色的设备组合覆盖范围,并在单一可扩展测试平台中提供了 CoT 优势
-
兼容的测试仪配置范围最广,从小巧的工程系统到高引脚数量的晶圆分拣和最终测试系统,适用于大批量生产(HVM)、
-
业内最广泛的应用覆盖范围,从高性能计算 (HPC) 和人工智能,到移动和射频,再到汽车和工业。
各代测试仪的兼容性最大限度地提高了测试能力利用率,保护了测试硬件的投资
-
探针卡和被测设备(DUT)板以及测试程序可跨代使用 V93000,以提供以下功能
-
快速鉴定和过渡到新功能
-
灵活有效地利用现有测试能力
-
为测试硬件(系统、仪器、探针卡和最终测试接口硬件)和测试工程基础设施、知识和培训提供投资保护
通过摩尔定律推动 ATE 创新的领先集成技术
-
创新的单引脚测试处理器和环境友好型水冷架构已历经四代 V93000,在引脚密度、可靠性以及数码、模拟和射频仪器的测量稳定性和可重复性方面均处于行业领先地位。
-
提供性能和吞吐量优化的卓越解决方案
-
快速鉴定和过渡到新功能
-
灵活有效地利用现有测试能力
-
为测试硬件(系统、仪器、探针卡和最终测试接口硬件)和测试工程基础设施、知识和培训提供投资保护
EXA 规模产品组合

新型 EXA Scale 高性能仪器
Pin Scale 5000
-
最快的通用 ATE 管脚
-
市场上最深的矢量存储器
-
同类最佳的通用引脚

Pin Scale Multilevel Serial
-
具有多级功能的全集成、全功能 HSIO ATE
-
适用于数据应用的深度矢量存储器
-
用于 HSIO 的特性和 HVM 功能集

Link Scale
-
支持基于软件的功能测试和 SCAN
-
与 SLT 进行关联和测试内容交换
-
通过 USB 或 PCIe 高速 SCAN 数据传输

DC Scale XPS256
-
刻度范围从 mA 到 >> 1000A
-
最佳精度和动态响应
-
革命性的探针保护

DC Scale XPS128+HV
-
适用于 -10V 至 +24V 的高压应用
-
电源/模拟的最佳精度和动态响应
-
全通道兼容 XPS256/XPS128

DC Scale XHC32
-
超高功率密度,可无限组合
-
支持引脚数极多的数码 + DPS 配置
-
增强的保护功能可防止损坏 DUT 和针/插座

可扩展性的终极选择

可扩展解决方案适用于不同尺寸的测试头,包括在一个测试系统上测试数码、射频、模拟和电源等混合器件功能。
整个平台的兼容性
新一代 V93000 EXA Scale 重申了 Advantest 对平台兼容性的承诺。现有的 V93000 负载板和上一代 Smart Scale 的仪器均可兼容,支持向 V93000 EXA Scale 平稳过渡,实现最佳资产利用率。通过继续使用久经考验的 SmarTest 软件,客户可以从已安装的基础软件基础设施和工具中获益。
V93000 单一可扩展平台提供各种兼容的测试仪等级,从最小的 CX 级到最大的 LX 级,以最大限度地提高投资回报率。等级决定了配置的可能大小,使用户能够适应被测设备的尺寸和性能。所有级别均提供所有功能和性能点。
所有类型的板卡都适用于所有测试头,测试头为每块板卡提供相同的电源、冷却和计算机接口,与测试仪的大小无关。DUT 板和测试程序可以互换。可扩展设计是在单一测试平台上实现出色的器件组合覆盖率和测试成本优势的关键能力。
DUT Scale Duo
在当今的测试环境中,可并行测试的器件数量往往受到探针卡或 DUT 板上元件空间的限制。随着汽车、移动和射频设备等快速增长的细分市场趋向于更高的器件数量,集成电路测试对 DUT 板上更多空间的需求变得越来越迫切。此外,先进的晶圆探测仪和最终测试处理机需要在印刷电路板上留出更多空间,以提供最具成本效益的解决方案,从晶圆探测中的单晶圆下触功能到大规模并行最终测试。
Advantest 提供了业内首个可在两种不同 DUT 板尺寸之间切换的 DUT 接口。利用独特的滑动机制,用户可以毫不费力地在两种格式之间来回切换,以满足特定的应用要求。
这种革命性的接口可将 DUT 板和探针卡上的可用空间增加 50% 或更多,而晶圆探针和最终测试装置可容纳的元件高度可增加三倍以上。
DUT Scale Duo 还可以配置为在直接探针装置中实现卓越的偏转性能。

SmarTEST
SmarTest 8 是 V93000 单扩展平台的核心软件解决方案。该软件基于 Linux 和 Eclipse,是由 Advantest 设计、实施和支持的完整操作系统。
与高度先进的 V93000 硬件功能相匹配,SmarTest 8 提供高度灵活的交互式用户界面。SmarTest 8 工作中心专为优化吞吐量而设计,用户可在测试程序开发、特性分析和生产测试环境中使用所有系统功能。
在测试程序开发环境中,用户可以使用完全交互式的仪器和调试视图,对从测试流程到操作序列和单个测量进行完全交互式的调试。该环境专为满足具有挑战性的半导体器件测试规格、上市时间和测试成本标准而设计。
它通过一整套特性分析、测试单元集成和操作界面工具,实现了向大批量生产的快速过渡。用户环境基于 RedHat Linux、Eclipse IDE 和基于 Java 的编程界面。为了优化可扩展性,SmarTest 8 采用了灵活的许可结构,以平衡系统功能、性能和经济性。

数码
集成电路 (IC) 的复杂性不断提高,功率需求增加,VDD 水平降低,功率精度标准提高,矢量存储器要求扩大,支持功能测试操作,以及测试成本的考虑,这些都给半导体测试带来了多方面的挑战。要成功应对这些挑战,需要创新的方法、协作的努力,以及对改进测试方法的承诺,以满足半导体行业不断发展的需求。
通过我们的数码解决方案,我们可以提供交钥匙解决方案以及插座、处理解决方案和负载板设计方面的专业知识。
我们是数码解决方案的市场领导者,提供卓越的功率精度、单系统功率和最先进的单引脚电子速度。我们的 XPS256、XHC32、Pin Scale 5000 和 Link Scale 为我们应对人工智能、HPC 和移动等应用带来的未来挑战做好了准备。
射频
快速发展的无线通信行业对当今的射频解决方案提出了挑战。测试成本和质量时间是射频 ATE 解决方案提供高并行性、高性能和大规模多站点功能的主要驱动力。
V93000 Wave Scale RF (WSRF) 解决方案可满足射频和毫米波应用的这些要求,包括蜂窝 5G / 5G Advanced / NR RedCap、WiFi 6/6E/7、UWB、蓝牙、GPS、ZigBee、WiGig、Sparklink 和许多其他即将推出的标准,适用于所有设备类型,包括收发器、功率放大器、模块和 RF-SOC。
WSRF 采用先进的架构,具有独立的射频子系统,基于 V93000 创新的单引脚测试处理器和额外的定制射频集成电路,可提供必要的射频性能,同时提供大规模并行测试。WSRF 仪器前端在其输出端结合使用了分路器和开关,将高精度串行测量和高吞吐量并行测量这两个领域的优点结合在一起,适用于发射和接收。此外,环保型水冷结构还有助于提供业界领先的射频端口密度、可靠性以及测量稳定性和可重复性。
V93000 EXA Scale 拥有业界领先的各种仪器,在应对这些集成射频-SoC 设备的测试挑战方面具有独特的优势。
电源和模拟
ADAS 集成、精确的电池单元监测和平衡以及增强的安全功能等新挑战对尖端微处理器、传感器和电池管理系统 (BMS) 芯片提出了更高的要求。这些集成电路对测试和鉴定有着独特的要求。V93000 EXA Scale 具有可扩展的灵活配置和通用仪器,可以测试这些芯片。
AVI64、FVI16 和 PowerMUX 仪器进一步扩大了单一可扩展 V93000 测试平台的使用范围,其高密度仪器实现了经济高效的并行测试以及通用的每引脚架构。这些仪器采用浮动设计,可以测试高压侧和低压侧电源结构,完全基于模式的操作最大限度地提高了测试吞吐量。
V93000 电源和模拟解决方案提供了一套仪器,可满足电源、模拟和控制器集成电路的各种测试需求。凭借高密度卡、通用功能以及精确的力和测量能力,电源和模拟解决方案在高站点数测试中实现了领先的 CoT 节省。