T5221

T5221集成了多达12个测试站于第三方多晶圆探针台内，每个测试站均具备独立测试能力。该系统实现了爱德万测试历史上非易失性存储器测试系统的合理空间利用，除系统控制器外无需额外占用空间。该测试机凭借其大规模并行测试能力，可同时对多达1152个器件进行晶圆级测试，吞吐量显著提升。

随着3D NAND器件容量的增加，测试结果输出的数据量也随之增长，处理起来变得更加困难。为了应对数据处理时间增加带来的影响，T5221设计具备更高的数据传输速度。因此，可以进一步缩短测试时间，吞吐量较以往产品有所提升。

T5221搭载了Future Suite操作系统，该平台专为存储器测试系统设计，凭借其久经验证的可靠性已成为全球行业标准。其与旧系统的高度兼容让用户能够从上一代设备无缝过渡。