T5230

T5230存储器测试系统针对NAND/NVM器件采用组合阵列架构，在晶圆测试（包括晶圆级老化测试WLBI和内置自测试BIST）领域实现了业界领先的测试成本效益。该系统可在每个测试头上并行执行1024个存储器件的晶圆测试，从而实现高生产率并节省高达86%的占地面积。在T5230中，多个测试单元通过系统控制器连接，每个测试单元可独立进行晶圆测试。测试单元可存储于通用多晶圆探针台中，同时大幅减少测试单元占地面积，且测试机可与线性及多层堆叠配置的探针台对接。在测试速度高达125MHz/250Mbps的功能测试中，T5230可确保高时序精度、可重复性和故障检测能力。

随着3D NAND器件容量的增加，测试结果输出的数据量也随之增长，处理起来变得更加困难。为了应对数据处理时间增加带来的影响，T5230提供了更高的数据传输速度。因此，可以进一步缩短测试时间，吞吐量较以往产品有所提升。

T5230搭载了Future Suite操作系统，该平台专为存储器测试系统设计，凭借其久经验证的可靠性已成为全球行业标准。其与旧系统的高度兼容让用户能够从上一代设备无缝过渡。