T5511

存储器测试系统

具有多种测试功能及业界领先的8Gbps测试速度

多种DRAM,一个方案

动态随机存取存储器(DRAM)是个人计算机和工作站常用的通用型存储器。除此之外,DRAM还广泛应用于服务器和客户端,并大量用于图形处理与移动设备应用。DRAM无处不在,其技术变革与演进速度相当迅猛;不同用途的DRAM,其速度与功能存在很大差异。用于图形显示的超高速GDDR5-SDRAM芯片需要时钟训练和CRC(循环冗余校验)等功能,以确保其可靠性与高速性能表现。与此同时,用于服务器和客户端的DDR4-SDRAM将很快实现两倍于主流DDR3-SDRAM的带宽,并具备与GDDR5相当的功能。在移动应用和图形显示领域,x32和x64的总线宽度已成为主流,而具备256位宽接口的Wide I/O DRAM预计将在近期实现标准化。

从最终应用的多样化需求来看,DRAM技术的发展需要满足支持每一代新器件和新应用的理想测试解决方案,同时成本控制要求也催生出可覆盖研发到量产全流程、支持多种DRAM类型的统一平台化解决方案。

行业领先的8Gbps测试速度和±40ps时序精度

T5511的最高测试速度可达8 Gbps,是全球领先的存储器测试设备,能够轻松支持高速的GDDR5-SDRAM存储器测试。此外,由于系统所有测试引脚均支持8Gbps,因此在高速运行时不会降低并行性。

内置时钟训练控制功能

T5511硬件内置的时钟训练功能,对于新型DDR4-SDRAM和GDDR5-SDRAM存储器测试至关重要。这使得在依赖软件实现该功能时无法实现的吞吐量提升成为可能。

简化测试程序的创建

T5511还具备硬件CRC码生成器功能,这对于前沿的DDR4-SDRAM和GDDR5-SDRAM存储器测试至关重要。专用硬件会自动生成CRC码,从而减轻操作员负担,使测试程序编写更为简便。此外,T5511采用爱德万测试的“Future Suite”测试操作系统,以便操作员能够利用专为T55xx系列测试系统创建的庞大程序数据库。

从研发到量产的灵活运用

系统配置范围可从研发用384针脚到量产的最大6144针脚。T5511的“研发到量产”灵活配置能力让客户能够以更少的成本投入实现更高的测试效率。

目标器件 DDR4-SDRAM, GDDR5-SDRAM
并行测试能力 256 (×8 I/O)
最高测试速度 4GHz / 8Gbps
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