T5835

全新T5835具备完整的测试功能，从封装测试到高速晶圆测试，适用于所有工作速率高达5.4 Gbps的存储器集成电路，包括从NAND闪存器件到DDR-DRAM和LPDDR-DRAM等所有下一代存储器。该系统可同时处理高达768台被测器件进行最终的封装测试。此外，系统还具备多种功能，例如用于高端移动存储器的增强型可编程电源（PPS）功能，以及用于提高良率的实时DQS与vs.DQ功能。

T5385的时序调整功能对于日益高速的存储器测试不可或缺，其基于多种存储器数据模式的高速评估与缺陷分析功能也可助力新系统应对比前代产品更高的存储容量与速度。上述优化系统功能可缩短测试时间，有助于提高良率。此外，新系统的可扩展结构设计可灵活满足未来需求。新增CPU通过支持多核并行计算，显著提升了系统的测试功能、速度和能力。

T5835沿袭了前代经典T5800系列所遵循的存储器测试系统全球标准，并进一步提升了平台可扩展性。现有多种型号可供选择，包括结构紧凑、适用于评估与现场分析的STH（小型测试头）；体积较大、适合用于最终测试大规模量产前最终测试的LTH（大型测试头），以及能够实现高速晶圆测试的MTH（中型测试头）。客户可以通过选择适合需求的系统配置，来降低初始投资和提高效率。此外，数字模块支持升级，可提供满足未来扩展需求的持续解决方案。