T6391

显示驱动芯片测试系统

T6391是一款融合了先进的测试功能和高吞吐量的测试平台,实现了对高分辨率平板显示设备显示驱动IC的高性能和高性价比的测试。

随着高分辨率平板显示设备(LCD/OLED)的集成度日益提高,如今的显示驱动IC(DDIC)通常集成了大量的逻辑/模拟电路,以支持包括触控功能在内的高级功能。

与此同时,LCD和OLED在移动设备、AR/VR和汽车电子等领域的快速普及,推动了市场对体积更小、功能更强的DDIC的需求。这些因素给芯片测试带来了严峻的挑战。ADVANTEST推出的这款T6391系统正是为了满足这些需求而设计,同时能够满足DDIC引脚数量不断增长、接口速度持续提升所带来的测试需求。

多功能且可扩展

T6391为所有类型的应用提供广泛的测试覆盖,包括具备高引脚数和高速接口的模拟、存储器和逻辑电路。这种多功能性得益于系统独特的板卡设计,使其成为工程验证和量产测试的理想解决方案。

T6391支持多种类型的DDIC,能够满足当前和未来的市场需求,从TDDI芯片到用于AR/VR的高精度、小电压域的DDIC,到用于高端移动设备的拥有高速接口的DDIC——这些都是当前和下一代产品的核心需求。系统采用与曾经塑造 DDIC 测试历史的ADVANTEST T6300系列测试机相同的测试编程环境,因此兼具卓越的运行效率及针对所有测试场景的高效操作。

卓越的运行效率实现高吞吐量

T6391最多支持3,584个LCD 通道,可实现最佳的的多站点测试,支持各种DDIC的高效量产。其不断升级的CPU和系统架构使其具备高吞吐量,而并发测试功能则允许多个功能同时运行。这些能力缩短了DDIC测试时间并降低了测试成本,使T6391始终处于行业领先地位。

面向先进显示驱动芯片的测试解决方案

在移动设备和AR/VR设备中,更高的分辨率和更低的功耗,要求更精细、更精确的灰阶电压控制。同时,随着分辨率提升、刷新率提高、多功能集成以及系统小型化,这些趋势需求更快速、更高效的数据传输。T6391系统推出了一种用于高精度灰阶测试的新板卡,具备μV量级的分辨率,它还支持包括 P2P、MIPI 以及 eDP 在内的高速接口。这些功能共同构成了面向尖端设备的全面测试解决方案。

主要规格

目标器件 适用于所有LCD和OLED显示应用的DDIC和TDDI
LCD测量 3,584个通道(最大值),支持Per Pin DGT,支持高精度DGT模式
数字I/O 最多1,024个通道,速率高达1.6Gbps
高速接口 支持MIPI C-Phy,最高可达4 Gsps支持,MIPI D-Phy, P2P, eDP
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