T6391

显示驱动芯片测试系统

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测试机可结合先进的测试功能和高通量，为高分辨率平板显示器的显示驱动芯片提供了最佳量产测试解决方案

高分辨率平板显示器（LCD/OLED）的集成度越来越高。目前的显示驱动芯片（DDI）通常包含大量的逻辑/模拟电路，可用来管理触控功能等。同时，LCD/OLED在移动电子产品中的应用迅速增长，推动了对尺寸更小、功能更强的DDI的需求。这些因素为芯片测试带来了严峻的挑战。爱德万测试的T6391测试系统正是为了满足DDI的引脚数量不断增加，接口速率持续提高的需求而设计的。

通用性和可扩展性

T6391可提供广泛的测试范围，可以覆盖所有类型的应用，包括具有高引脚数和高速接口的模拟、存储和逻辑电路。这种通用性源于系统的板卡设计，使其成为工程和量产应用的最佳测试解决方案。

该测试机是为了满足全球客户的当前和未来需求而开发的。它能够面向下一代显示驱动芯片发展的方向，测试触控显示驱动芯片（TDDI）、嵌入电源管理功能的显示驱动芯片。操作系统采用了与爱德万T6300产品系列中其他测试机相同的TDL编程环境，以对其操作和测试成本进行优化。

操作效率更高，以实现高通量

该系统可以并行测试多颗芯片，并可对具有多达3,584个引脚的高分辨率DDI进行大规模量产测试，包括用于全高清（Full HD）、QHD和4K显示器的芯片。T6391的高速接口实现了行业领先的高通量，通过其1,024个I/O通道提高了数据传输和计算速度。

面向下一代显示驱动芯片的测试解决方案

为了对使用 MIPI 接口（移动电子产品的标准协议）的显示驱动芯片进行测试，T6391 可以在I/O 引脚上发送高达 1.6 Gbps 的数据。当配备额外的板卡时，该系统可以测试高达 6.5 Gbps的高速接口，这些高速接口通常被用于超高清电视的，包括 4K (2160p)分辨率世代的，显示驱动芯片。

主要规格

目标芯片 所有类型的显示驱动芯片，包括手机用/显示器用显示驱动芯片，高分辨率和触控显示驱动芯片
并行测试 最多支持32颗芯片同时测试
LCD测试 3,584个通道（最大），每个通道都有独立的数字转换器和DC测试单元
Digital测试 数据速率：通过数字I/O（1,024ch）发送数据的速率可达1.6Gbps，通过UHSIF（32lane）发送数据的速率高达6.5Gbps
Analog测试 ADC Test Signal Generator模块，Ramp Wave Generator功能