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自动化测试设备
这些系统以业界领先的精度和成本效率测试半导体性能和质量。为半导体设计评估、批量生产和产量提高提供强有力的支持。
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测试系统相关组件
这些产品包括与测试系统配套使用的测试外围设备，如连接半导体器件与测试系统的接口，以及将半导体传送到测试系统的处理装置。系统级测试设备和软件也属于这一类。
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CD-SEM（关键尺寸扫描电子显微镜）
我们的扫描电子显微镜产品采用扫描电子显微镜技术，以高精度和高稳定性测量和审查微小的表面结构，如晶圆上的光掩膜蚀刻和电路。
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电子测量仪器和理化设备
这些产品应用我们原创的电子测量技术，为广泛的领域提供创新的解决方案。
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Advantest Cloud Solutions™
我们的数据基础架构从每个半导体工艺中收集数据，并使用人工智能和机器学习对其进行分析，从而创建实时优化的解决方案，使整个半导体价值链的生产率得到提高。
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Advantest SiConic
Advantest的统一环境为自动化硅验证提供了可扩展的生态系统与解决方案。
