面向半导体测试单元运营的 AI 驱动型实时异常检测与诊断洞察
更快检测、诊断并响应测试异常
ACS AI 智能异常检测可持续监控半导体测试作业，帮助识别不同测试机、产品、批次和生产基地中的异常行为。异常检测可覆盖测试作业的多个层面，从持续监控入手，建立正常行为基线，并帮助发现逐渐显现的偏差。
该解决方案基于 ACS 实时数据基础设施（ACS RTDI™）平台，持续采集测试单元的实时数据，结合上下文进行处理，并将数据以流式方式传输至运行在边缘端的 AI 模型。借助这些功能，工程师能够更早发现问题、加快调查分析，并助力提升良率、质量和生产效率。
为什么选择 ACS AI 智能异常检测？
该解决方案基于爱德万测试在自动测试设备（ATE）领域的专业知识和 ACS RTDI 平台，融合 AI、机器学习及结合上下文的测试数据分析，直接在测试单元中提供可扩展、自适应的异常检测能力。
主要优势:
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早期异常检测：帮助识别良率异常波动、设备问题、工艺偏差及其他异常状况，避免其演变为更严重的生产问题。
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AI 辅助诊断：分析生产数据，并结合支持性证据提出可能的根本原因假设。
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实时可执行洞察：提供警报、上下文说明及建议措施，帮助降低对生产的影响。
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提升良率和生产效率：帮助降低复测成本、减少停机时间，并推动运营效率提升。
典型应用:
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复测异常检测
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实时监控测试位之间的差异
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实时检测良率异常波动
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直流特性分析与波形分析
与传统的离线分析方法不同，ACS AI 智能异常检测可持续分析测试机的实时数据，直接在测试现场提供实时可视化信息、警报和诊断洞察。
由 ACS 与 NVIDIA 提供技术支持
ACS AI 智能异常检测将 ACS RTDI 实时数据基础设施与 NVIDIA AI 技术相结合，助力实现半导体测试作业的实时监控、诊断和 AI 驱动型洞察。
