愛德萬測試發表最新Per-pin數位轉換器與比較器 (LCD HP) T6391顯示驅動測試機功能再升級

T6391新模組問世！瞄準新興顯示驅動IC高精確測量與高壓測量需求

日本東京 –2022年11月22日– 半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 今日發表最新LCD HP (High-Performance，高效能) Per-pin數位轉換器和比較器模組。專為搭配T6391顯示驅動測試系統而研發的LCD HP模組，在效能表現上具備兩項關鍵升級。首先，與先前模組相較，新款LCD HP模組的測量精確度大幅提升5倍，最適合滿足高階智慧型手機與擴增／虛擬實境 (AR/VR) 應用所搭載之先進顯示驅動IC (DDIC) 測試需求。其次，新款LCD HP模組能處理 ±40V範圍的高壓測試，滿足最新汽車DDIC對測試可靠性的高要求。

智慧型手機與AR/VR眼鏡使用之OLED等所採用的顯示面板，必須能展現細膩的灰階變化。因此，用於這些顯示器的DDIC需要將輸出電壓細分為更小、更細微的步驟，故需要高精確電壓測量來執行測試工作。灰階越細膩，電壓測量就必須越精確。

另外，汽車市場所需的DDIC一般都搭載多個獨立晶片，分別用於源極驅動、閘極驅動，以及時脈控制器和觸控控制器。現在這些功能都將整合進單一晶片中，那麼自然愈來愈需要一台能一次測試所有功能的測試機。

愛德萬測試系統單晶片 (SoC) 測試事業單位資深副總 足立敏明指出：「對顯示器市場來說，現在正是令人興奮的時機；連帶地對測試產業也是如此。隨著元宇宙裝置市場持續擴大，OLED顯示面板的採用預料將持續成長；加上電動車成趨勢，帶動座艙儀表板、資訊娛樂系統與其他顯示功能所需之車用顯示器市場。上述科技發展創造出更新、更嚴格的測試與測量需求，而愛德萬測試T6391與最新LCD HP模組將引領業界，滿足這些需求。」

最新LCD HP模組於測試系統中實現雜訊抑制及不同通道間一致的測量精準度，做到高精確測量。LCD HP模組涵蓋了針對高階智慧型手機與AR/VR應用之最新先進DDIC的測試要求，使測試機能以最佳的測量精準度支援高精度灰階測試。此外，透過支援特定負載的 ±40V高壓測試，LCD HP模組還能執行反映真實運作的汽車DDIC功能測試。

T6391 LCD HP模組與現有模組高度相容，因此能與客戶原有的測試方案快速整合。目前已有一家顯示IC領導供應商正在評估中，預計這款最新模組在2023年第2季就能開放客戶訂購。欲瞭解更多有關LCD HP模組和愛德萬測試公司測試與測量全產品線，歡迎前往12月14至16日假東京國際展示場 (Tokyo Big Sight) 舉行的日本國際半導體展 (SEMICON Japan)，愛德萬測試將於第1549號攤位恭候光臨。