SEMICON West即將於2023年7月11-13日於舊金山盛大登場　愛德萬測試帶來創新測試技術、展現產業領導力

2023/07/06 Events

該公司將展示最新解決方案、贊助WFD館支持產業創造就業機會
並於測試願景研討會發表多篇論文

日本東京 –2023年7月6日– 半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 將於「SEMICON West 2023」大會展示最新IC測試解決方案，展會謹訂於2023年7月11至13日假舊金山摩斯康尼中心 (Moscone Center) 舉行，愛德萬測試將以 Beyond the Technology Horizon為題，展示旗下廣泛多元的產品組合，包括針對先進記憶體、5G、人工智慧 (AI) 和高效能運算 (HPC) 等應用最先進的測試科技。

愛德萬測試身為由國際半導體產業協會 (SEMI) 發起之半導體氣候聯盟 (Semiconductor Climate Consortium，簡稱SCC) 的榮耀創始成員，亦將於會上展示其企業ESG (環境、社會責任、公司治理) 倡議，其中一大焦點在於減少公司業務活動的碳排放，為客戶積極追求淨零 (NetZero) 排放目標的努力做出貢獻。

產品展示

愛德萬測試將於南館 (South Hall) 第1035號攤位帶來旗下重點產品，展現該公司多元靈活的測試解決方案與服務實力。今年展示內容如下：

  • V93000 EXA Scale系統單晶片 (SoC) 測試系統，包括最新XPS128+HV通用VI與電源供應卡，能降低電源管理IC與其他高壓元件之測試成本。
  • DUT Scale Duo介面，擴增DUT板空間以因應大量測試與EX測試系統需求。
  • 具備快速開發套件 (Rapid Development Kit，簡稱RDK) 的T2000 SoC測試系統，針對包括汽車與電源類比等所有SoC，及IP Engine 4測試解決方案，以最快速的影像處理減少CMOS 影像感測時間與成本。
  • inteXcell，首款全面整合、統一的測試基礎設施，能將T5835測試機結合為占地面積最精簡的測試機台，最適合執行先進記憶體IC的最終測試。
  • ACS開放式生態系，能做到串流資料存取與即時分析，加上整合式測試軟硬體監測和控制，提升半導體元件良率、品質與產能。
  • 各式軟體解決方案與服務，譬如提供專家級遠端測試工程支援的CONNECT+。
  • MPT3000固態硬碟 (SSD) 測試系統，滿足與PCIe Gen 5、Compute Express Link™ (CXL™) 和NVMe SSDs相關之測試需求。
  • 一體化NAND測試解決方案，包括針對NVMe系統級測試的T5851-STM16G測試機、T5835高速記憶體測試機和T5221NAND/NVM多晶圓測試解決方案。
  • CREA功率半導體測試設備，能針對種類廣泛的功率模組，譬如IGBT, MOSFET、SCR與二極體。

演講發表

愛德萬測試亦將於今年的測試願景研討會 (Test Vision Symposium) 扮演積極角色，會議謹訂於7月12至13日與SEMICON West同步舉行。Dave Armstrong將出席7月13日週四 下午3點至4點的From Assembly Line to Field: The Future of Semiconductor Testing專題研討。此外，愛德萬測試還會帶來多場發表，講題如下：

  • High-Performance Compute Devices and the Road to 2,000A／主講人：Bob Bartlett
  • Enhanced Parametric Test Insights through Dynamic Data-Driven Test Flow Execution／主講人：Alan Hart
  • Experiences Building and Deploying Real-Time Data Infrastructure into Test Operations／主講人：Ken Butler
  • The Future is Here: GPT-4 as an Expert Assistant for Test and Product Engineers／主講人：Keith Schaub
  • HVM Test of UCIe-Enabled Chiplets for 2.5D and 3D Devices: The Case for a Dedicated Test Port／主講人：Michael Braun
  • Deploying a MATLAB Application onto the ACS Real-Time Data Infrastructure (poster presentation)／海報發表：Yue Chen

大會贊助

愛德萬測試亦是SEMI WFD(Workforce Development，人力開發) 與High Tech U計畫贊助商。愛德萬測試的人資專家將於大會WFD館 (WFD Pavilion) 與大學在學生、畢業生以及求職者互動，提供有關履歷撰寫的建議還有求職、面試技巧。在7月13日登場的High Tech U上，他們則將與修習STEM (科學、科技、工程學、數學) 課程的高中生交流，協助學生進一步了解半導體產業，探索未來職涯進路。

社群媒體

掌握最新消息，請上愛德萬測試Facebook與LinkedIn專頁，或追蹤愛德萬測試Twitter帳號：@Advantest_ATE，於大會期間隨時接收資訊更新。

關於愛德萬測試

愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 為自動化測試與量測設備領導製造商，旗下產品應用於各類半導體設計和生產流程，領域涵蓋5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車，以及包括人工智慧 (AI) 和機器學習在內之高效能運算 (HPC) 等，其領先業界的系統和產品獲全球客戶信賴，整合至世界各地最先進的半導體生產線。為了因應接踵而來的測試挑戰和不斷推陳出新的應用，愛德萬測試也積極投入研發，不僅針對晶圓測試和最終測試開發先進測試介面解決方案，也生產光罩製造過程中最重要的掃描式電子顯微鏡 (SEM)，並提供系統級測試解決方案和其他測試相關周邊設備。1954年創立於日本東京的愛德萬測試，已成為在世界各地都有據點的全球化企業，同時秉持對國際社會的承諾，致力於實踐永續願景和社會責任。更多資訊請上：www.advantest.com.

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