公司概況

公司概況

(截至2023年3月31日)

註冊名稱 愛德萬測試集團
總部位置 100-0005 東京都千代田區丸之內1丁目6番2号新丸之內中心大樓
創立時間 1954年 12月
代表董事、
總裁兼執行長
吉田芳明
資本額 323億6,300萬日圓
上市證券交易所 東京證交所主要市場 (股票代碼:6857)
在外流通股數 766,141,256股(截至2023年10月1日)
員工數
(包含臨時僱員)
7,117人 (日本2,783人,海外4,334人)

Sales

Change in Net Sale

* Financial data are presented in accordance with International Financial Reporting Standards (IFRS).

Change in Operating Income/Operating Income Margin

* Financial data are presented in accordance with International Financial Reporting Standards (IFRS).

Change in ROE and EPS

* ROE: Return on equity ratio of net income attributed to the parent;
EPS: Basic net earnings per share

* Advantest has issued a 4-for-1 stock split of common stock, effective October 1, 2023. The above EPS figures are based on the assumption that the stock split had been issued at the beginning of fiscal 2018.

業務領域和主要產品

愛德萬測試擁有三大業務領域:半導體和元件測試系統約佔銷售額的70%; 機電系統負責測試系統周邊設備; 以及其他服務、支援,主要提供客戶支援和系統級測試產品。 這些產品和解決方案的組成使我們能夠應對種類繁多的半導體測試需要以及多種多樣的客戶需求。 愛德萬測試廣泛的產品組合是我們競爭力的關鍵之一。

以半導體測試系統為中心的協同解決方案系列

半導體和元件測試系統

系統單晶片(SoC)系統

  • ADVANTEST V93000 系統單晶片(SoC)系統 用於系統單晶片測試

    V93000
    用於系統單晶片測試

  • ADVANTEST T2000 系統單晶片(SoC)系統 用於系統單晶片測試

    T2000
    用於系統單晶片測試

  • ADVANTEST T6391 系統單晶片(SoC)系統 用於顯示驅動晶片測試

    T6391
    用於顯示驅動晶片測試

記憶體測試系統

  • ADVANTEST T5835 記憶體測試系統 用於DRAM/NAND測試

    T5835
    用於DRAM/NAND測試

  • ADVANTEST T5503HS2 記憶體測試系統 用於高速DRAM測試

    T5503HS2
    用於高速DRAM測試

半導體測試設備是愛德萬測試主要的產品線。 我們的測試系統主要分為系統單晶片測試機和記憶體測試機。

除了記憶體外,系統單晶片測試機可以測試幾乎所有類型的元件,如邏輯半導體、類比半導體和射頻元件。系統單晶片測試機市場是記憶體測試機市場的兩到三倍,擁有多達數百用戶數,包括晶圓代工廠和委外封測代工廠。而此市場的特點是客戶數量眾多,需要測試的元件類型廣泛。 愛德萬測試的系統單晶片測試機的產品特色在於測試範圍和測試能力方面具有優異的可擴充性,並且可測試涵蓋從低成本物聯網元件到高端半導體的廣泛元件。

記憶體測試機優化適用於記憶體的量產(如DRAM和NAND記憶體)。 在記憶體領域中,元件類型不那麼多樣化,但生產量巨大,表示客戶需要採用能夠同時測試數百個元件的測試機。 愛德萬測試的記憶體測試機在這一領域佔據主導地位,因為它們具有比當今生產最快元件更高的速度,並擁有業界最好的並行測試能力。

機電系統

測試分類機

  • ADVANTEST M4872 測試分類機 用於系統單晶片測試

    M4872
    用於系統單晶片測試

  • ADVANTEST M6242 測試分類機 用於記憶體測試

    M6242
    用於記憶體測試

元件介面

  • ADVANTEST 測試治具(Change kit)

    測試治具(Change kit)

  • ADVANTEST 測試介面(HIFIX)

    測試介面(HIFIX)

奈米技術

  • ADVANTEST E3650 應用於光罩/EUV光罩檢查之CD-SEM

    E3650
    應用於光罩/EUV光罩檢查之CD-SEM

愛德萬測試的機電相關領域由測試周邊設備組成,如元件介面和測試分類機,其用於與各種測試系統的結合,以及前端半導體製造過程的奈米技術產品。

元件介面為裝置與測試系統電氣連接的通用術語,此類介面可以快速調整測試系統以測試各種不同尺寸和腳數的多樣性元件。

測試分類機執行以下三個項目:將半導體封裝運送到測試系統、對其施加溫度、根據後端半導體製作過程的測試結果分類半導體。 我們的分類機、測試系統以及元件介面由一站式「測試單元」組成,結合了高測試品質和生產效率。

愛德萬測試的奈米技術產品是利用我們專有電子束技術的掃描電子顯微鏡。 它們用於前端半導體製造過程中測量光罩和晶圓上電路的寬度和高度,隨著EUV光刻技術的普及,這一領域的需求將有望增加。

服務、支援和其他

支援/服務

  • Advantest Cloud Solutions™(ACS)

系統級測試

  • ADVANTEST MPT3000HVM SSD測試系統

    MPT3000HVM
    SSD測試系統

  • ADVANTEST ATS503x 系統級測試系統

    ATS503x
    系統級測試系統

  • ADVANTEST 溫度控制單元(Thermal Control Unit)

    溫度控制單元(Thermal Control Unit)

  • ADVANTEST 高端測試座(High-end Test Socket)

    高端測試座(High-end Test Socket)

愛德萬測試的現場服務和系統級測試佔了這個領域大部分的銷售額。

現場服務不僅限於維護我們的系統。 同時,我們也在拓展高附加價值的服務,如系統利用率提升、量產產能提升諮詢和安全意識在線支援等業務。

系統級測試系統在類似於使用半導體最終產品的環境中進行測試,它可以篩選出無法通過在獨立環境中測試設備來檢查的缺陷。 我們透過收購在該領域建立了早期的優勢地位,現在正致力於通過與愛德萬測試系統的協同效應來發展系統級測試業務。

此外,該部分還包括Advantest Cloud Solutions™(ACS),此解決方案能實現半導體製造過程中的數據利用; 二手產品銷售; 以及非半導體應用的產品,如醫療和製藥領域的測量解決方案。