愛德萬測試推出Pin Scale Multilevel Serial─次世代高速ATE卡

2023/11/14 Products

高度整合之HSIO卡擴充V93000 EXA Scale 平台功能
滿足高速介面需求

日本東京—2023年11月14日—半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 今日發表最新高速I/O (HSIO) 卡「Pin Scale Multilevel Serial」。專為V93000 EXA Scale ATE平台設計的Pin Scale Multilevel Serial，不僅是首個專門打造的EXA Scale HSIO卡，也是第一款為滿足先進通訊介面之訊號需求而推出的高度整合的HSIO ATE卡。

  • Pin Scale Multilevel Serial

在運算領域已普遍採用的HSIO介面，現在進一步使用在HDMI®、DisplayPort™和USB等消費性介面中。在運算領域，PCI Express (PCIe) 5.0與6.0正朝數千兆位元 (multi-gigabit) 資料傳輸率邁進，並應用於嵌入式單板電腦；當企業針對像微控制器、行動應用處理器、到高效能運算和人工智慧 (AI) 元件等這些大量數位設計及其介面進行測試時，亟需要HSIO來應對這些高密度設計。因此，HSIO測試對於新元件設計之特性分析 (characterization) 以及元件初期生產階段至關重要。

Pin Scale Multilevel Serial支援最高32Gbps的資料傳輸率，也是首款全面高度整合的ATE卡，本身就能支援高速介面中愈來愈普遍的多階信號 (multilevel signaling) 技術 (譬如PAM4)。由於可直接採用數位測試中典型的程式架構，這一特點提高了使用的便利性，進而減少測試程式開發的時間與成本，也因此可以在新晶片設計生產初期提供額外測試覆蓋率，幫助優化先進技術、加快上市時間。

由於Pin Scale Multilevel Serial具備全面整合特色，很容易便能配置到EXA Scale平台上。同類競爭產品一般都需要在測試頭頂端和待測物 (DUT) 間加入整合機制，但此舉會削弱訊號效能、不利製造整合。

愛德萬測試公司V93000產品部門執行官暨部門經理Ralf Stoffels指出：「隨著擁有百萬兆級高資料傳輸率的應用飛速崛起，業界對ATE卡新訊號處理功能的需求也愈來愈迫切。愛德萬測試最新的Pin Scale Multilevel Serial卡憑藉HSIO專業做到全面整合，大幅擴充V93000 EXA Scale的功能，為戮力研發先進元件的客戶創造更珍貴的價值。」

Pin Scale Multilevel Serial目前正接受多家主要客戶初步評估，愛德萬測試很快便會開放預訂。更多有關Pin Scale Multilevel Serial和V93000 EXA Scale™測試平台的資訊，請上官網查詢：www.advantest.com/tw/products/soc/v93000/exa.html。

關於愛德萬測試

愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 為自動化測試與量測設備領導製造商，旗下產品應用於各類半導體設計和生產流程，領域涵蓋5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車，以及包括人工智慧 (AI) 和機器學習在內之高效能運算 (HPC) 等，其領先業界的系統和產品獲全球客戶信賴，整合至世界各地最先進的半導體生產線。為了因應接踵而來的測試挑戰和不斷推陳出新的應用，愛德萬測試也積極投入研發，不僅針對晶圓測試和最終測試開發先進測試介面解決方案，也生產光罩製造過程中最重要的掃描式電子顯微鏡 (SEM)，並提供系統級測試解決方案和其他測試相關周邊設備。1954年創立於日本東京的愛德萬測試，已成為在世界各地都有據點的全球化企業，同時秉持對國際社會的承諾，致力於實踐永續願景和社會責任。更多資訊請上：www.advantest.com.

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