愛德萬測試將於12月13-15日於東京舉行之SEMICON Japan 展示最新測試解決方案

2023/12/12 Events

日本東京—2023年12月12日—半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 將於2023年12月13日至15日假東京國際展示場 (Tokyo Big Sight) 舉行的2023日本國際半導體展 (SEMICON Japan 2023) 展示旗下最新測試解決方案。

愛德萬測試致力投入工程測試科技，為守護永續社會的安全與保障作出貢獻。除了ESG倡議外，愛德萬測試亦將以「超越科技視野」(Beyond the Technology Horizon) 為主軸，透過應用來呈現其測試科技如何在高效能運算 (HPC)、人工智慧 (AI)、汽車、物聯網 (IoT) 和5G領域推動先進創新。愛德萬測試是本屆活動黃金級贊助商。

產品展示

愛德萬測試將於1廳 #1648 攤位展示旗下多元豐富的測試科技，幫助我們日常生活中不可或缺、日益複雜的半導體持續進步。愛德萬測試攤位今年的現場設備展示將包括：

AI/HPC

  • 最新：Pin Scale Multilevel Serial 是首款原生且全面整合的HSIO卡，擴充V93000 EXA Scale平台功能以滿足先進通訊介面之信令需求。
  • 最新：HA1200，提供晶粒測試(die test)功能與主動式溫控，在晶粒進行5D/3D封裝前全速達成100%測試覆蓋率。
  • 最新：針對M487x測試分類機系列的2kW主動式溫度解決方案，提供溫控功能，在最終測試階段實現高度運算IC之100%測試覆蓋率。

汽車

  • CREA功率半導體測試設備，針對種類廣泛的功率元件，包括一般使用在工業或汽車應用之晶圓(wafer)、單晶粒(single-die)、基板(substrate)、PKG 和模組(module)進行SiC與GaN功率測試。
  • T2000 SoC測試系統配備快速開發套件 (Rapid Development Kit，簡稱RDK)，針對包括汽車與電源類比等所有系統單晶片 (SoC)，並配備IP Engine 4測試解決方案，以最快速的影像處理減少CIS測試時間與成本。

IoT/5G

  • V93000 Wave Scale毫米OTA能針對毫米波應用 (5GNR2、WiGiG、汽車雷達) 進行遠場/近場 (far-field/near-field) 參數OTA測試。此解決方案涵蓋量產作業所需的多點測試，並且很容易便能整合進現有的測試基礎設施中。
  • Wave Scale RF，專為高效益生產5G和Wi-Fi通訊IC而設計，包括WiFi 7與WiFi 6E元件。
  • 運用XR科技的專家級遠端支援解決方案，以及導入機器人維修的未來願景。

愛德萬測試將透過數位顯示的方式展示下列產品：

  • 最新：T5851-STM32G，全新系統級測試模組，能測試及涵蓋最新一代具備高達32 Gbps UFS/PCIe介面之嵌入式protocol NAND元件。
  • 最新：採用合併陣列架構之T5230記憶體測試系統，目的在減少NAND/NVM晶圓測試的測試成本，其中也包含晶圓級預燒 (WLBI) 。
  • MPT3000固態硬碟 (SSD) 測試系統，滿足與PCIe Gen 5、Compute Express Link™ (CXL™) 和NVMe SSDs相關之測試需求。
  • inteXcell，首款全面整合、統一的測試基礎設施，能將T5835測試機結合為所需面積最精簡的測試機台，最適合執行先進記憶體IC的最終測試，為提升測試作業之生產與能源效率作出貢獻。
  • ACS即時資料基礎建設 (ACS RTDI™) 為一開放性解決方案生態系，能做到串流資料存取與即時分析，加上整合式測試軟硬體監測和控制，提升半導體元件良率、品質與產能。
  • ATS 7038系統級測試 (SLT) 平台是一套全自動、大規模並行、大量製造的整合式測試機台，能因應降低整體測試成本、提升良率而日益複雜的任務和成本挑戰。7038平台支援任務模式測試(mission-mode testing)，以及透過功能性HSIO介面及適合的DFT元件結構測試 (SCAN、MBIST、LBIST等)。

發表演說

除了產品展示外，愛德萬測試總裁暨執行長吉田芳明還將於「愛德萬測試藉半導體測試開創未來」(Advantest Enabling the Future Through Semiconductor Testing) 演講中進一步探討企業使命。演講時間訂於12月15日下午2點10分至2點35分，地點在東2展廳SuperTHEATER。

愛德萬測試SVC行銷及商業開發暨測試策略資深總監Shinji Fujita，將在12月13日下午1點至1點30分，在STS Testing Session期間於東8展廳PremiumCLASS A，以「測試先進大規模SoC元件的挑戰」(Challenges in Testing Advanced Large-Scale SoC Devices) 為題發表演說。

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關於愛德萬測試

愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 為自動化測試與量測設備領導製造商，旗下產品應用於各類半導體設計和生產流程，領域涵蓋5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車，以及包括人工智慧 (AI) 和機器學習在內之高效能運算 (HPC) 等，其領先業界的系統和產品獲全球客戶信賴，整合至世界各地最先進的半導體生產線。為了因應接踵而來的測試挑戰和不斷推陳出新的應用，愛德萬測試也積極投入研發，不僅針對晶圓測試和最終測試開發先進測試介面解決方案，也生產光罩製造過程中最重要的掃描式電子顯微鏡 (SEM)，並提供系統級測試解決方案和其他測試相關周邊設備。1954年創立於日本東京的愛德萬測試，已成為在世界各地都有據點的全球化企業，同時秉持對國際社會的承諾，致力於實踐永續願景和社會責任。更多資訊請上www.advantest.com.

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