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Tue Aug 01 07:00:00 GMT 2017 Products

柔軟性の高い「MPT3000」新オプションが製品認証と市場投入スピードの短縮を実現

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、SSDの試験範囲を拡張する「MPT3000」シリーズの新製品を発売しました。「MPT3000」のアーキテクチャとソフトウエア環境はそのままに、設計評価向け、少量生産向け、さらにはBIST(Built In Self Test)の試験も可能になりました。「MPT3000」シリーズは、そのモジュラー構造、tester-per-DUT(device under test)アーキテクチャ、独自のハードウエア・アクセラレーション機能などにより、単一プラットフォームで設計から信頼性評価、量産試験まで、複数のプロトコル、複数のフォームファクタをカバーします。

急速に拡大するSSD市場では、フォームファクタの多様化と、SATAからPCIeやSASという高速プロトコルへの移行の要求が高まっています。従来の「MPT3000HVM」は、そのモジュラリティと柔軟性によりさまざまなSSD製品の量産試験を単一のソリューションで行うことができます。新製品の「MPT3000HES」は、「MPT3000HVM」と同じハードウエア、ソフトウエア、温度制御性能とインターフェースを持ちつつ、構成を小さくすることで量産エンジニアリング・サポートや少量生産品に最適にしました。

また「MPT3000HVM」では、現在のプロトコル試験に加え、新たに「Smart Power BIST」ソリューションを追加しました。これにより既存の「MPT3000HVM」の資産を活用しながら、低速のシリアル・インターフェース試験が低コストで可能になります。

今回「MPT3000」シリーズに「MPT3000HES」と、「Smart Power BIST」ソリューションが加わることで、急激に進化し拡大しているSSD市場の要求に対応し、お客様の製品認証、市場投入スピードの短縮を実現します。

「MPT3000HES」と「Smart Power BIST」ソリューションは今年上半期に出荷を開始しました。

 

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