メモリ・テスト・システム

半導体を用いデータの記録・保持ができる集積回路を、メモリ集積回路と言います。メモリ・テスト・システムは、少品種・大量生産が一般的なメモリ半導体の量産工程に最適化され、多数個の半導体を同時にテストすることができます。

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