製品・ソリューションを探す

半導体が設計どおりに動作するか、どれ位品質に優れているかを、高い精度とコスト効率で試験します。半導体の設計評価から量産立ち上げ、歩留まり向上を強力にサポートします。

テストする半導体とテスト・システムを接続するインタフェースや、テスト・システムに半導体を搬送する装置など、テスト・システムの周辺で使用する製品群です。また、システム・レベルでの試験装置やソフトウェアもここで紹介します。

走査型電子顕微鏡（SEM）の技術を応用し、フォトマスクやウェーハ上の配線パターンなど微細な表面構造を高精度かつ安定的に測定、レビューします。

当社の祖業である電子計測器および、電子計測技術を多方面に応用した製品群です。

半導体の各工程からデータを収集し、人工知能や機械学習により解析するデータ・インフラストラクチャーです。リアルタイムに最適化されたソリューションで、半導体バリューチェーン全体の生産性向上を可能にします。

半導体開発における設計検証とシリコン検証をシームレスに統合し、フローの自動化や速やかな製品デリバリを可能にします。