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Jun 30, 2020 Products

5G向けメモリ・デバイスのバーンイン・テストとコア・テストを統合

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、メモリ・ハイスピード・バーンイン・テスタの設計評価工程向け新製品「H5620ES」を発売しました。今年3月に発表した量産工程向けシステム「H5620」と同様に、100MHzの周波数と最大200Mbpsのデータレートで、DDR4、DDR5、LPDDRのバーンイン・テストとメモリ・セル・テストの生産性向上を可能にします。

エンジニアリング用途のテスト・システム「H5620ES」は、省スペースで容易に移設できます。オープントップ・アーキテクチャを採用し、デバイス・インタフェース・ボードを取り外すことなく被試験デバイスのピックアンドプレイスが可能です。

「H5620ES」のシステムOSは当社のメモリ・テスト・システムで広く使われている「FutureSuite™」を採用し、「H5620ES」と同じテスト・プログラムを「H5620」でもご利用いただけます。コンタクトチェックなどの事前テストルーチンも「H5620ES」を用いて確認することで、量産時のサイクルタイム削減を可能にします。テスト効率のあらゆる課題を解決し、5G市場の旺盛なストレージ・デバイス需要に応えます。

「H5620ES」の販売開始は今年7-9月期を予定しています。

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