新メモリ・テスト・セル「inteXcell」を発表　革新的なアーキテクチャで床面積を従来製品比1/3に削減

株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：吉田 芳明）は、フットプリントを極限まで削減したメモリ・テスト・セルの新シリーズ「inteXcell」の販売を開始しました。高密度化、省電力化、インタフェースの高速化といったメモリ・デバイスの後工程テストの課題に対し、設計評価から量産まで一つのプラットフォームで対応します。

inteXcellは、フレキシブルなシステム構成、広範なテスト・カバレッジ、高スループットのハンドリングを統合した、業界の先駆けとなるテスト・ソリューションです。今回発表したユニットは、DRAMとNANDフラッシュのさまざまなテスト用途をカバーするメモリ・テスト・システム「T5835」をベースに、コンパクトな構造で床面積を当社従来製品比で1/3に縮小しました。テスト・セルは1台から4台まで任意にセットすることができ、セル1台あたり384個、最大1,536個のデバイスを高速かつ高精度で並行してテスト可能です。加えて、各セルは独立して非同期でテストすることができます。フレキシブルなシステム構成で、システムの稼働率向上と、合理化されたセルベースでのメンテナンスの効率化を実現します。

inteXcellの初号機は2023年の4-6月期に出荷予定です。

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