日本IR協議会「IR優良企業賞」を受賞

株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区、代表取締役 Group CEO：Douglas Lefever、以下「当社」）は、一般社団法人 日本IR協議会が主催する「IR優良企業賞2026」において、「IR優良企業賞」を受賞しました。

「IR優良企業賞」は、IRの趣旨を深く理解し、積極的に取り組み、市場関係者の高い支持を得るなどの優れた成果を挙げた企業を選び表彰するものです。

当社が選定された理由は以下の通りです。（日本IR協議会のニュースリリースより抜粋）「半導体関連産業に対する注目度が高まるなかで、資本市場のニーズに応える活動を進めている。経営層がIRに積極的で、技術動向や経営戦略をフランクに語る機会を設けている。IR部門は、国内外の投資家に向けた決算説明会資料の日英併記や効率的な運営などに取り組んでいる。専門的な技術についての説明や、事業別の市場見通しを四半期ごとに更新することへの評価も高い。多様な関心や疑問に対する情報開示によって、適切な評価を導こうとする姿勢が伝わってくる。」

当社は、当社グループの持続的な発展と中長期的な企業価値の向上に資することを目的として、今後も情報開示の充実を図るとともに、株主・投資家をはじめとするステークホルダーの皆さまとの対話機会の拡充に努めてまいります。

アドバンテスト（東証プライム：6857）は、半導体の設計・製造工程で使用される半導体試験装置およびテストソリューションを提供する、世界的リーディングカンパニーです。当社の製品とソリューションは、ハイパフォーマンス・コンピューティング（HPC）、人工知能（AI）、自動車、産業機器、民生機器など、さまざまな用途の半導体の品質と信頼性を支えています。1954年に創業したアドバンテストは、世界各地に拠点を有するグローバル企業で、サステナビリティならびに社会的責任に配慮した企業活動に取り組んでいます。当社の先進的なテストシステムは、世界中の最先端半導体製造ラインに導入されています。また、半導体バリューチェーン全体をカバーする幅広いテストソリューションを展開しており、半導体製造の前工程におけるウェーハテストや、後工程で行われるファイナルテストに対応する先進的なソリューション、設計検証およびシリコン検証、システムレベル・テストソリューションのほか、テストハンドラやデバイスインタフェースなどの周辺機器、フォトマスク製造に不可欠な走査型電子顕微鏡、半導体の歩留まり向上に貢献するデータアナリティクスソリューションなどを提供しています。詳しくは当社ウェブサイト(www.advantest.com/ja/)をご覧ください。