T5230は、NANDフラッシュを含む不揮発性メモリデバイス向けのテストシステムです。あらゆるテストセル形状に対応するコンバインド・アレイ・アーキテクチャを採用し、ウェーハレベル・バーンイン（WLBI）テストやビルトイン・セルフテスト（BIST）といったウェーハテストにおいて、非常に高いコスト効率を実現します。システムコントローラには複数のテストセルが接続されており、各テストセルは独立したウェーハテストが可能です。テストセルは一般的なシングルウェーハプローバへの接続をはじめ、複数のテストセルを1台のマルチウェーハプローバに接続することもでき、フロアスペースを最小化します。また、T5230は多連または多段構成のプローバにもドッキングすることができます。
大容量化が加速される3D
NANDにおいて、試験結果として出力されるデータ量の増加が課題になっております。このような増加するデータ処理時間の影響を改善するため、T5230ではデータ転送速度の高速化を実現しております。これにより、当社従来機より更にテスト時間を短縮しスループットを向上されることができます。
T5230はグローバルスタンダードとして実績のあるメモリテストシステム用のオペレーティングシステムである「FutureSuite」を採用しております。これにより、従来機から高い互換性により、従来機からのプラットフォーム移植もシームレスに展開することができます。
