AIによるテストセルのリアルタイム異常検知と診断支援
異常をいち早く検知し、迅速な診断・対応へ。
ACS AI-Powered Anomaly Detectionは、半導体テスト工程を継続的に監視し、テスタ、製品、ロット、サイトにおける異常な挙動の特定を支援します。異常検知はさまざまなテスト工程を対象とすることができ、継続的なモニタリングによって正常な挙動を把握し、発生しつつある異常や変化の兆候を検出します。
ACS Real-Time Data Infrastructure（ACS RTDI™）プラットフォームを活用し、テストセルから得られるリアルタイムデータを継続的に収集して、エッジ上のAIモデルへリアルタイムに送信します。これにより、エンジニアは問題を早期に検知し、迅速に原因調査を進めることができるとともに、歩留まり、品質、生産性の向上につなげることができます。
ACS AI-Powered Anomaly Detectionを選ぶ理由
当社のATEに関する専門知識とACS RTDIプラットフォームを基盤に、AIや機械学習を活用してテストデータを関連情報と組み合わせて分析することで、拡張性と適応性に優れた異常検知機能をテストセルで直接提供することができます。
主なメリット:
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異常の早期検知
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歩留まりの急激な変動、装置の問題、プロセスの逸脱、その他の異常状態を、大きな生産上の問題に発展する前に特定できるよう支援します。
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AIによる診断支援
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生産データを分析し、根拠となる情報とともに、可能性の高い根本原因の仮説を提示します。
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リアルタイムで実用的なインサイト
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異常アラートに加え、原因の説明と推奨アクションを提供し、生産への影響低減を支援します。
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歩留まりと生産性の向上
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再テストコストの削減、ダウンタイムの最小化、業務効率の向上を支援します。
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主な用途:
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再テストにおける異常検知
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サイト間ばらつきのリアルタイム監視
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歩留まり異常のリアルタイム検知
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DCプロファイリングおよび波形解析
従来のオフライン分析とは異なり、ACS AI-Powered Anomaly Detectionはテスタから得られるリアルタイムデータを継続的に分析し、テストの状況をリアルタイムで把握することで、異常の早期発見と迅速な原因究明を支援します。
Powered by ACS and NVIDIA
ACS RTDIのリアルタイムデータインフラストラクチャとNVIDIAのAIテクノロジーを組み合わせ、半導体テストのリアルタイム監視や診断、AIを活用した分析を可能にします。
