V93000のRFIC向け新テスト・ソリューション 「Wave Scale」を発表

2016/07/06 製品情報

革新的アーキテクチャで高い同時測定能力を実現

株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:黒江真一郎)は、テスト・システム「V93000」の新テスト・ソリューション「Wave Scale」を発表いたしました。「Wave Scale RF」と「Wave Scale MX」2種類のモジュールにより、第5世代移動通信 (5G) に使われていくRFIC、無線通信用ミクスド・シグナルICを極めて高い同時測定能力でテストできるため、テストコスト削減のみならず、Time to Marketの短縮に大きく貢献します。

「Wave Scale」は、携帯電話の通信規格であるLTE、LTE-Advanced、LTE-A Pro向けICや、LTE-M, WLAN, GPS, ZigBee, Bluetooth向けIC、IoTデバイスに、高効率のテスト・ソリューションを提供します。今日のテスト需要に合致するとともに、将来の5G技術への移行にも対応しています。

従来のRFテストは、4サイトないし8サイト同時にテストしていましたが、一サイトあたり一つのRF規格しかテストできませんでした。「Wave Scale」は、同じデバイス上の複数のRF規格や回路を同時にテストできます。サイト内の同時測定と、高いマルチサイト効率を実現し、複合RFデバイスのテストコストを大幅に削減します。

「Wave Scale RF」モジュールは、1枚あたり4つのサブシステムが独立して信号を印加、測定することにより、LTE、GPS、Bluetooth、WLANといった異なる通信規格のデバイスを一度にテストできます。各サブシステムは8つの独立したポートが一斉にRF信号を発生し、4台の計測器と同等の働きをします。これらのサブシステムは送受信含め、最大8サイトまで使用できるため、モジュール1枚当たりの最大サイト数は32サイトになります。
またテストスピードは、32ポートを最高6GHzまでカバーします。そのほか、200MHzの帯域幅、ループバック、エンベデッド・キャリブレーションなどのさまざまな機能により、今日のRFデバイスから、将来の5Gデバイスまで幅広くサポートします。

「Wave Scale MX」モジュールは1枚当たり32個の完全に独立した測定部と、各ピンにパラメトリック測定ユニットをもっています。高精度のDC測定を可能にし、アナログIQ ベースバンドや、高速DAC/ADCのテストに最適です。
さらに、Wave Scale MXは16ビットのACリソースがあるため、各種無線規格に最適なテスト・パフォーマンスを実現します。300MHzの帯域幅により、チャネルアグリゲーションなど最新の変調規格にも対応しています。柔軟性の高いIOマトリックスは、ロードボードの設計を簡素化するとともに、マルチサイト・テスト能力を向上し、テストピンを有効に活用できます。キャリブレーションには複雑な測定器を必要とせず、IQキャリブレーションボードで行えます。

「Wave Scale RF」「Wave Scale MX」各モジュールは、シーケンサーで同時制御でき、それぞれ独立したテストを同時に行うことができます。「Wave Scale」は、テクノロジーの進化やICの世代の移行に最適な機能により、次世代デバイスを効率的、低テストコストでテストし新しいデバイスの早期市場リリースへ貢献します。

「Wave Scale」の初号機はすでに中国のファブレス企業に設置され、最新のLTE カテゴリ6対応デバイスのテスト、およびLTE-Advanced カテゴリ10 ならびにカテゴリ16対応デバイスの開発に使用されています。本格的出荷は2016年の7-9月期を予定しています。

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