ACS リアルタイム・データ・インフラストラクチャー (ACS RTDI™)は、半導体テスト・データを安全に収集、解析、保管、モニタリングするソリューション・プラットフォームです。テスト・データを解析して得られた洞察から、必要な制御をミリ秒単位で生成することができます。
ACSのミッション
ACSはACS RTDI™と人工知能(AI)や機械学習(ML)主導の解析ソリューションにより歩留まりを最適化するとともに、品質を向上させ、市場投入や量産開始を加速します。
ACS RTDI™について
未来はすぐそこに
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異なるテスト工程間でデータをシームレスに統合するワークフローを実現
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セキュアな環境でデータを転送し、ミリ秒単位で結果を提供
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統合されたデータによる、より高度なテストフローを実現
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単一のデータプラットフォームで、社内アプリケーションの開発や市場をリードするソリューションを採用可能に
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テストフロー実行中にリアルタイムでデータを判定し、生産性と品質の向上を実現
機能の概要
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半導体製造サプライチェーンにおけるデータ・ソースを統合
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ゼロトラストセキュリティ環境にも対応できる安全で低レイテンシのエッジコンピューティングとデータ解析を提供
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試験中に人工知能(AI)や機械学習(ML)主導による意思決定がミリ秒単位で可能
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オープン・ソリューション・エコシステムにより、お客様が独自に解析モデルを開発し実行することも可能
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信頼性・安全性に優れ、OSの改版時にもスムーズに対応可能
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単一のプラットフォームで、エコシステムパートナーが作る複数のアプリを利用可能
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アドバンテストのすべてのプラットフォームとの互換性
ユースケース
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異常検知
高度なデータ分析アルゴリズムを用い、従来の方法では検知不可能なレベルの不具合をリアルタイムに正確に特定することで、品質と信頼性を向上させ、オーバーキルを防止します。
アダプティブテスト
製品ごとに試験結果を推論し、それに応じて実行する試験項目を追加・削除し、試験方法を変更することで重要な試験リソースの使用を最適化し、コストを削減し、備総合効率(Overall Equipment Efficiency: OEE)を改善します。
ビンニングによる予測
テストプロセスの早期にリスクのあるデバイスを特定しスキップすることで、不要な検査にかかるコストと時間を削減し、品質や信頼性を向上します。