メモリ・テスト・システム「T5851」が「フラッシュ・メモリ・サミット」 で「Best of Show award」を受賞

株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：黒江 真一郎）のメモリ・テスト・システム「T5851」が、8月9日(火)～11日(木)にアメリカのサンタクララで開催された「第11回フラッシュ・メモリ・サミット」において、最高の賞にあたる「Best of Show award」を受賞いたしました。

「T5851」は、フラッシュ・メモリの性能、利便性、耐久性、電力効率向上に貢献する画期的なテスト手法が、審査員各位から高い評価をいただきました。「T5851」のマルチ・プロトコル試験機能は、次世代高速メモリUFS (Universal Flash Storage)やBGAタイプPCIe  SSDのテストを一台でカバーし、お客様の設備投資および開発リスクを最小化します。また、デバイスの 完全個片試験と、アドバンテストが独自開発したハードウエア・アクセラレータにより、業界トップクラスのテストタイムを実現します。

「T5851」はプロトコルNANDデバイスの量産工程向けだけでなく、信頼性試験および検証試験向けにも設計されたシステムです。当社のメモリ・テスト・ハンドラ「M6242」と合わせて使用することにより、最大同時測定個数768個までフレキシブルにシステムを構成することができます。

本件の審査委員長のJay Kramer氏からは、「家電製品にも用途が拡大しているフラッシュ・ストレージ市場では、拡張性に優れたテスト・システムが求められています。スマートフォンやタブレット向けをはじめとする多種多様なメモリICのテストを、開発から量産まで幅広くカバーする『T5851』の受賞を、私たち審査委員は大変うれしく思います。」とコメントをいただきました。

当社は、低消費電力モバイル機器向けに活況が続くNANDフラッシュ・メモリ市場において、「T5851」の先進性が認められたことを誇りに思うとともに、これからも顧客満足度のさらなる向上を目指してまいります。

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