ウエハ試験向けメモリ・テスト・システム「T5822」を発売

株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：吉田 芳明）は、メモリ・テスト・システム「T5800シリーズ」の新製品「T5822」を発売しました。モバイル機器に広く使用されているDRAM、NANDフラッシュなどの不揮発性メモリのウエハ試験に最適です。

昨今のモバイル機器の普及拡大と共に、コストに敏感なメモリ・デバイス製造には幅広い品種の量産試験を低コストで行えるソリューションが求められています。「T5822」は、最大1,536個の同時試験個数や1.2 Gbpsの試験速度など、機能とコスト効率を幅広い品種のメモリのウエハ試験に最適化しました。また、「T5822」はコンパクトなテスト・ヘッドに対応し、これまでより高い電圧レベル印加を可能にしたレベル・ドライバ、DC試験機能に加え、メモリ・セル救済解析装置(MRA)も備えています。

「T5822」のオペレーティング・システム「FutureSuite™」は、さまざまな種類のメモリ・デバイスのテスト・プログラムに対応します。－10～13 Vの出力電圧レンジは、メモリ・デバイスのピン数を問わずフレキシビリティとコストに優れたテストを可能にします。さらに、「T5822」は他の「T5800シリーズ」と同じモジュラー構造を採用しているため、ユーザーは「T5822」にシームレスに移行できます。投資のリスクを削減し利益を拡大する、メモリ・デバイスに理想的なテスト・ソリューションを提供します。

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