「SEMICOM West 2017」に出展
2017/07/05
株式会社アドバンテスト(本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明)は、7月11日(火)~13日(木)にアメリカ・サンフランシスコのMoscone Centerで行われる「SEMICON West 2017」に出展いたします(ブース: 北ホール #5868)。
テスト・ソリューションのリーディング・カンパニーとして、IoTや車載ネットワークなどの「Connected World」を支える幅広いソリューションをご紹介いたします。また、関係が深い「SMART Journey」パビリオンを後援します。
主な出展品
- テスト・システム「V93000」Wave Scaleソリューション
新しく「Wave Scale MX-HR(高分解能)」をラインアップに加え、IoTデバイスや高分解能コンバータICの高効率なRFテストが可能に。 - テスト・システム「T2000」
アナログ・ピンの用途を自在に設定可能なアーキテクチャにより、モバイル向けパワーIC、アナログICのテストを幅広くカバー - 計測システム「EVA100」
プログラム言語不要の直感的な操作性、優れた測定精度とシステム拡張性を合わせ持ちデバイスの開発から量産までを一貫サポート。 - メモリ・テスト・システム「T5822」
モバイル機器に広く使用されているDRAM、NANDフラッシュなどの不揮発性メモリのウエハ試験に最適。
この他にも、システムレベル・テストやナノテクノロジー・ソリューションなど、製品・サービスを幅広く出展いたします。
プレゼンテーション
当社がプラチナム・スポンサーの「Test Vision 2020」において、3本の技術論文を発表いたします。
- Contact Resistance Challenges and a Solution
日時 :7月12日13:25 ~
発表者:Dave Armstrong - mmWave Test Challenges
日時 :7月13日 9:20~
発表者:Roger McAleenan - The Challenges of Testing IoT Modules for Mass Production
日時 :7月13日 14:25~
発表者:Kotaro Hasegawa
この機会にぜひアドバンテストの幅広い製品ポートフォリオをご覧ください。
皆さまのご来場を心よりお待ち申し上げております。
※ 本ニュースリリースに掲載されている情報は、発表日現在の情報であり、時間の経過またはさまざまな事象により予告無く変更される可能性がありますので、あらかじめご了承ください。