EV/HV車載ハイパワー・アナログIC試験向けに最適な「T2000」新モジュール2種類を発表

「T2000 IPS」の性能強化と多機能化が、成長を続ける車載IC市場にかつてないテスト・ソリューションを提供

株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：吉田芳明）は、「T2000 IPS(Integrated Power Device Test Solution)」へ新たに2種類のモジュールを追加し、EV(Electric Vehicle)/HV(Hybrid Vehicle)などのパワートレインに使用される高電圧、高電流デバイスが試験可能になりました。新モジュール「MMXHE (Multi-function MiXed High Voltage)」と「MFHPE (Multi-function Floating High Power)」は、独自の多機能ピン構造によって様々な試験用リソースを自由に割り当てることができ、高電圧、高精度試験において、多数個同時測定が可能になりました。

自動車の電動化が進む中、パワートレイン用ICの信頼性を確保するため、高電圧に対応した試験ソリューションが益々重要になっています。今回「T2000 IPS」用に発表した新しいモジュールは、急速に成長している車載用高性能アナログICを試験するために開発されました。

新モジュール「MMXHE」と「MFHPE」は、出力ピンをそれぞれ64outと36out持っており、テスト効率の最適化とテストコストの削減を実現しました。また、各ピンが複数の測定能力を持つことで、ロードボード上に載せるリレーの数を減らすことができます。

これらのモジュールは、300Vレンジの電圧測定や100μVの高精度測定を提供でき、電動化されつつある自動車で使われる駆動IC、制御IC、センサICなどを試験するのに最適です。また、モジュールのリソースを直列や並列に組みあわせることで、 顧客が希望する電圧値または電流値を得ることができます。この多様性により、幅広く進化する試験要求に追従することができ、「T2000 IPS」を長期に利用することができます。

「T2000 IPS」には、PMU(Parametric Measurement Unit)、高電圧デジタル機能、差動電圧、時間測定、Iddq試験、任意波形発生器/デジタイザ機能などを高精度で試験する能力が備わっています。またこれらの機能を全てのピンが持っているため、高機能化するデバイスに対し最適な試験を実行できます。

この「T2000 IPS」新モジュールは、12月13日～15日に東京ビッグサイトで行われる展示会「SEMICON Japan」にて展示いたします。