「SEMICON Japan 2017」に出展

2017/12/06 トピックス

新製品2種類を含む、幅広いテスト・ソリューションを展示

株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：吉田 芳明）は、12月13日（水）～15日（金）に東京ビッグサイトで行われる「SEMICON Japan 2017」に出展いたします。「Measure the Connected World」をスローガンに、最先端で革新的な、性能とコストの両方に優れたテスト・ソリューションを展示いたします（ホール2 ：ブース番号2045）。

出展製品

  • テスト・システム「T2000 AiR」
    コンパクト設計でテスト・コストに優れ、IoTデバイスのテストに最適
  • 【新製品】テスト・システム「T2000」の新モジュール「MMXHE」「MFHPE」
    電気自動車やハイブリッドのパワートレインに使用されるハイパワー・デバイスをはじめ、パワー・マネジメント・デバイスを幅広くカバー
  • テスト・システム「V93000 Wave Scale」と「Wave Scale MX-HR」「Wave Scale RF」モジュール
  • 【新製品】テスト・ハンドラ「M4171」
    高精度な温度制御とリモート操作が可能な、研究開発向けシングルサイト・ハンドラ
  • ディスプレイ・ドライバIC(DDI)用テスト・システム「T6391」
  • 少量多品種のアナログ、デジタル、ミクスド・デバイス向け計測システム「EVA100」
  • 高速DRAM向けメモリ・テスト・システム「T5503HS」
  • 3D-NANDフラッシュ・メモリ用テスト・システム「T5830」「T5833」
  • SSD用テスト・システム「MPT3000シリーズ」
  • 半導体測定環境をクラウドで提供する「CloudTesting™ Service」
  • 1Xnmノードの微細なパターンを描画可能なEB露光装置「F7000」
  • ICのパッケージ厚や電子回路の配線故障を非破壊で検査するテラヘルツ解析システム
    「TS9000シリーズ」

この他、「プローブ・カード」、「フィールド・サービス」、「ファイナンス/リース・サービス」の展示も行います。

技術セミナー

当社は、期間中開催される27本の聴講無料の技術セッション「TechSTAGE」のスポンサーです。また、IoTキーテクノロジーフォーラム「スマートオートモーティブの時代がやってくる」（12月14日(木)15:10～、会議棟レセプションホールA）では、当社ADS事業本部ADSシステム企画統括部長の長谷川宏太郎が登壇します。

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