シングルサイトのテスト・ハンドラ「M4171」を発表

世界中どこからでも遠隔操作可能、デバイスの開発評価を「自動化」

株式会社アドバンテスト（本社：東京都千代田区　社長：吉田 芳明）は、被測定デバイス1個取りのテスト・ハンドラ「M4171」を発表しました。「M4171」は、量産用ハンドラと同様の高効率な温度制御機能をポータブルなサイズに収め、半導体開発における温度テストや発熱管理を最適化します。デバイスを人の手でテスト・システムに置き、テスト結果に応じて選別することが一般的な半導体デバイスの開発現場に、自動化による効率向上を提案します。

「M4171」はネットワークを介して、世界中どこからでも操作できます。オペレーターの削減に加え、異なる場所のエンジニアが「M4171」をシェアすることにより、接続するテスト・システムの稼働率向上そしてテスト・コスト削減を可能にします。

「M4171」は、-45°C～125°Cの試験温度範囲を制御可能です。一回でさまざまな温度のテストが可能な「マルチモード・テスト・プロセス」や、テストでFail判定されたデバイスを自動で再テストする機能など、ユーザーのニーズに応じてテスト・モードをフレキシブルに設定できます。

「M4171」は、常温／高温／低温の3種の試験が可能なTri-temp技術により、幅広い試験温度レンジをカバーし、デバイス開発の効率を高めます。デバイス表面に直接コンタクトして温度を印加することで、急速冷却および加熱を可能とし、温度サイクル試験の効率を手動テスト比で40％改善します。

「M4171」は、当社のテスト・システム「V93000」や「T2000」をはじめ、さまざまなテスト・システムに接続可能です。デバイスに記された2Dコードの読み取り機能、デバイスを置く向きを正しく調整するローテーション機能、デバイスを押さえてテスト・ピンと高精度にコンタクトさせるオプション機能も備えています。GUI（Graphic User Interface）はシンプルかつ直感的で、ユーザーは簡単に操作できます。

デバイスの量産だけでなく、設計評価にもテスト・ハンドラを導入することにより、お客様はテスト装置の稼働率向上と事業コスト削減が可能になります。「M4171」は、研究開発向けシングルサイト・テスト・ハンドラという、新たな市場を創出します。

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  M4171